首页> 中国专利> 一种提高TN型号Island残留引起点缺陷的检出率的方法

一种提高TN型号Island残留引起点缺陷的检出率的方法

摘要

本发明涉及一种提高TN型号Island残留引起点缺陷的检出率的方法,其特征在于,包括如下步骤:步骤一,在液晶Panel专用电测架的承载台的下方放置背光板,背光板靠近承载台的端面贴下偏光片,在承载台上方放置与下方偏光片相互垂直的上偏光片,将TN型号的待测面板放置在上偏光片上,承载台为镂空结构,背光板产生的光源能透过承载台,待测面板和电测机连接;步骤二,点亮背光板,将电测机的设置电测程序的频率定位为35‑45HZ,Gate高电平时间定位为400‑600μs;步骤三,检测人员通过目测观察待测面板点亮后的状态。

著录项

  • 公开/公告号CN113281942A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2021-08-20

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 信利(惠州)智能显示有限公司;

    申请/专利号CN202110426536.X

  • 发明设计人 赵春光;徐阳;李伟界;

    申请日2021-04-20

  • 分类号G02F1/1362(20060101);G09G3/00(20060101);

  • 代理机构44245 广州市华学知识产权代理有限公司;

  • 代理人唐超

  • 地址 516029 广东省惠州市仲恺高新区新华大道南1号

  • 入库时间 2023-06-19 12:18:04

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2023-08-11

    发明专利申请公布后的驳回 IPC(主分类):G02F 1/1362 专利申请号:202110426536X 申请公布日:20210820

    发明专利申请公布后的驳回

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号