首页> 中国专利> 基于白光干涉仪的微小齿轮齿距偏差和齿廓偏差高精度测量方法

基于白光干涉仪的微小齿轮齿距偏差和齿廓偏差高精度测量方法

摘要

本发明公开了基于白光干涉仪的微小齿轮齿距偏差和齿廓偏差高精度测量方法,本方法不需要单独设计图像采集系统,也不需要额外使用图像处理技术。直接根据干涉图样的出现顺序实现对微小齿轮端面倾斜程度的实时监测,确保了齿轮轮廓的提取精度;基于齿轮端面三维点云数据确定齿轮中心,有效提升了齿轮定心精度。

著录项

  • 公开/公告号CN110940283B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2020-11-20

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 北京工业大学;

    申请/专利号CN201911269815.9

  • 发明设计人 石照耀;宋辉旭;于渤;

    申请日2019-12-11

  • 分类号G01B11/14(20060101);G01B11/24(20060101);

  • 代理机构11203 北京思海天达知识产权代理有限公司;

  • 代理人沈波

  • 地址 100124 北京市朝阳区平乐园100号

  • 入库时间 2022-08-23 11:22:22

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号