要解决的问题:提供一种用于校正灰色色调掩模中的缺陷的方法,通过该方法可以适当地校正在半透明部分中引起的缺陷。
解决方案:校正具有光屏蔽部分21,半透明部分22和半透明部分23的灰度色调掩模20中的缺陷的方法,其中使用该掩模时要使用的曝光光的透射量可以减少预定量的步骤,包括:由半透明膜26形成半透明部分23并且在半透明部分23中指定缺陷区域的步骤;在缺陷区域中形成与半透明膜的组成不同的校正膜27的步骤。在形成校正膜的步骤中,预先识别出校正膜相对于预定波长的曝光光的透光率特性。并且,根据识别的校正膜的透光率特性,以校正膜27相对于规定波长的曝光光的透光率大致等于半透明膜26的透光率的条件为条件。
版权所有:(C)2009,日本特许厅&INPIT
公开/公告号JP2009020312A
专利类型
公开/公告日2009-01-29
原文格式PDF
申请/专利权人 HOYA CORP;
申请/专利号JP20070182870
申请日2007-07-12
分类号G03F1/08;
国家 JP
入库时间 2022-08-21 19:41:19