随机测试

摘要： 对RTL级代码进行功能验证的常用方法是仿真,即使用EDA工具模拟待测设计的实际工作情况,验证待测设计的正确性。对于功能不复杂的待测设计,提出了一种基于System Verilog语言的随机测试用例设计方法,可以提高测试的完整性且具有良好的重用性。

摘要： 镜像自适应随机测试(Mirror Adaptive Random Testing,MART)算法将输入空间划分为多个不相交的相等子域,源域中使用自适应随机测试(Adaptive Random Testing,ART)算法生成测试数据,剩余子域中使用镜像函数生成镜像测试数据.镜像策略的引入减少了ART算法的计算开销,但是算法的检错有效性也随之降低.通过研究MART算法的特征,分析如何提升MART算法的检错有效性.针对镜像函数将源测试数据镜像到各子域时的镜像顺序,对比分析镜像选择序与镜像函数对MART算法的影响,本文提出了基于镜像受限选择序的MART算法,通过约束镜像选择序,使镜像测试数据分布更均匀.在仿真实验与实例实验结果中均显示,针对镜像策略中镜像选择序的优化,提高了MART算法的检错有效性.

摘要： 测试用例自动生成技术旨在降低测试成本,与人工生成测试用例相比,它具有更高的测试效率。现有主流的测试工具对软件中的所有文件都平等对待,但是大多数情况下含有缺陷的文件只占整个软件项目的一小部分。因此,如果测试人员能针对更易存在缺陷的文件进行测试,就能极大地节省测试资源。针对以上问题,文中设计了一种基于主动学习的预测引导的自动化测试工具AutoUnit。首先对待测文件池中的所有文件进行缺陷预测,然后对最“可疑”的文件进行测试用例生成,之后将实际测试用例执行结果反馈给缺陷预测模型并更新该预测模型,最后根据召回率判断是否进入下一轮测试。此外,AutoUnit还能在含缺陷文件总数未知时,通过设置不同的目标召回率来及时停止预测引导。它能依据已测文件来预测含缺陷文件总数并计算当前召回率,判断是否停止预测引导,保证测试效率。实验分析表明,当测得相同数量的缺陷文件时,AutoUnit花费的最短时间为目前主流测试工具的70.9%,最长时间为目前主流测试工具的80.7%;当含缺陷文件总数未知且目标召回率设置为95%时,与最新版本的Evosuite相比,AutoUnit只需要检查29.7%的源代码文件就能达到相同的检测水平,且其测试时间仅为Evosuite的34.6%,极大地降低了测试成本。实验结果表明,该方法有效地提高了测试的效率。

摘要： 2020年初“新冠”疫情肆虐,各领域正常运转受到冲击,全民抗疫轰轰烈烈。医学院校在“线上授课、停课不停学”的号召下积极运作开展新型的教学模式。《人体解剖学》是重要的医学基础必修课,在新型的教学要求中,既要完成知识的线上准确传递,还要全面考虑学生学习状态和教学质量监控,切实保质保量做到全覆盖、不脱节。经过多方反馈和测试,我们确定线上直播平台为“腾讯课堂”,其优势为:直播中PPT播放可用鼠标指引强调;受网络影响较小;视频、PPT、板书可任意切换,多角度讲解人体结构;课堂互动形式多样,签到、随机测试、讨论区、举手等,便于把控课堂;可设置课程回放利于复习。

摘要： 主要阐述了随机测试和搜索测试的两种单元测试用例生成技术的研究现状,通过经典测试程序,对JET、Randoop、Evosuite工具分别在分支覆盖率、产生测试用例数、所需时间三项指标进行了对比分析,总结了各自的特点及进一步的研究方向.

摘要： 随机测试是一种广泛应用于实践的基础测试方法.自适应随机测试(ART)是对随机测试的改进,其检错有效性优于随机测试.首先,分析了具有较高检错有效性但时间开销较大的经典ART算法;其次,重点综述了能降低时间开销的基于划分的ART算法,并对各种划分策略和测试用例生成算法进行了分析和对比;同时,分析了影响ART算法有效性的关键因素以及高维输入域空间中算法有效性低下的问题,梳理了算法有效性度量指标以及测试用例分布度量指标;最后,论述了ART算法中存在的问题及面临的挑战.

摘要： 智慧教室是未来教育教学的重要发展方向,它是一种新型的教学手段,主要是运用了现代化多媒体设备、智能设备、互联网资源等,在全新教学理念的指导下,改变了传统的教学方式和教学形式,让教学内容更加丰富,教学过程更为方便和高效,使得教师能够及时地掌握每一名学生的学习情况,以便及时采取应对措施突出讲解学生的薄弱点,使 之课堂教学更有效,同时也能够促进学生自主学习。本文主要是关于智慧教室环境下小学数学教学的几点思考,主要是智慧教室的应用基础,以及主要的应用模式,包括课前预习、课中讨论、随机测试和课后反馈等内容,通过这些具体应用能够让小学数学教学效果得到有效提升。

摘要： 生物化学和分子生物学是生物信息学的核心课程之一.教师只用一种传统方法授课,学习效果不佳.教学团队采用PHP+MYSQL搭建了一个在线课程题库系统,课堂采用双随机的方式进行课堂随机测试.该教学方法将帮助学生合理地利用时间,学习更多的知识.同时也将促进学生的学习质量和教师教学水平的提高.

摘要： 针对现有的镜像自适应随机测试(MART)、动态镜像自适应随机测试(DMART)等算法通过镜像函数生成的测试用例的随机性不足,使其有效性在不同程度上有明显下降的问题,提出基于随机向量镜像策略改进A RT算法.首先将随机向量引入传统镜像函数,增大镜像测试用例间的差异性;然后将随机向量镜像函数运用到镜像策略中,改进现有的A RT算法.实验结果表明,利用随机向量镜像策略可明显地提高镜像算法的有效性,并且该算法比传统A RT算法的效率有显著提升.%To cope with problem that the low randomness of test cases, generated by the mirror function of exist-ing mirroring adaptive random testing (MART), dynamic mirror adaptive random testing (DMART) algorithms and so on, make the effectiveness of the algorithms so declined obviously in varying degrees. A mirror method based on random vector is proposed to improve the adaptive random testing (ART) algorithms. Firstly, the tradi-tional mirror function is improved by introducing the random vector to enlarge the diversity between the mirror test cases. And then, the random vector mirror function is applied to the mirror method to improve the ART algo-rithms. The experimental results show that, use the random vector mirror method can improve the effectiveness of mirror algorithms visibly, and this algorithm enhances prominently in comparison with the original algorithm in efficiency.

摘要： 随着集成电路设计复杂度指数级增长,功能验证已经越来越成为大规模芯片设计的瓶颈,而在多核处理器中,Cache一致性协议十分复杂,验证难度大.针对Cache一致性协议验证提出基于模拟验证的一种基于贝叶斯网络的随机测试生成方法,解决Cache一致性协议状态空间爆炸的问题.首先分析了Cache一致性协议及基于贝叶斯网络推理的CDG方法,并将CDG方法应用于Cache一致性的验证.以FT处理器中的Cache一致性协议验证为例,对比伪随机测试,使用CDG方法将覆盖率提高近30％.%As the complexity of integrated circuit design increases exponentially,functional verification has become a bottleneck in large-scale chip design.And in multi-core processor design,Cache coherency protocols are very complex and difficult to verify.We propose a random test generation method based on Bayesian network for simulation-based verification to solve the state space explosion problem of Cache coherency protocols.We discuss the Cache coherency protocol,analyze the coverage directed test generation (CDG) method based on Bayesian network reasoning,and apply the method to Cache consistency verification.Taking the verification of the Cache coherence protocol of the FT processor as an example,the results show that the CDG method can increase coverage by nearly 30％ in comparison with the pseudo-random test.

摘要： 随机测试(Random Testing，RT)是一种简单易用的测试技术，它从输入域随机地选择测试用例，直至发现一个失效或测试资源耗尽．但它因为不利用任何软件需求和代码信息而被认为是效率低下的．基于失效域分布的特征，Chen提出了一种名叫适应性随机测试(Adaptive Random Testing，ART)的新方法．ART虽然提高了随机测试的失效发现效率，但与RT一样，在发现一个失效后就停止测试，而现实中许多软件都是具有多个输入输出变量的，它可能存在多个缺陷，针对这样的软件进行测试，ART显然存在一定的局限．本文将I／O关系信息引入ART，在I／O关联性分析的基础上，提出了一种基于I／O的ART新方法．rn 仿真实验的结果证明，相对于FSCS-ART而言，新算法发现失效的效率有了极大的提高，同时，它可以一次发现多个失效，更适用于多个输入输出变量的软件的测试．

摘要： 本文提出了基于随机测试的软件可靠性评估方法。文中首先引入程序正确性的概念,继而讨论了程序正确性估计方法,该方法以贝叶斯统计理论为依据,在对随机测试过程分析的基础上建立了基于输入域的测试过程的形式化描述;接下来讨论了程序正确性概率的先验密度函数及相关参数的选择方法,在此基础上得到正确性概率的后验概率密度函数.最后提出了在给定的程序运行剖面下软件可靠性估计方案.

摘要： 本文对软件测试中随机测试与选择性测试的优缺点进行了全面的比较,从理论上证明了选择性测试优于随机测试.并根据软件验收的实际情况,提出了一种新的软件测试方法.

摘要： 在软件测试阶段,常使用的排错方法包括排错测试和操作概图测试,但它们采取的都是随机测试的策略.为此集中分析它们的缺陷,并在此基础上提出一种新的测试方法。

摘要： 本文首先介绍了用于指导测试用例生成的理论基础,重点论述了测试用例各种产生方式和衡量测试终止的指标,给出了基于运行剖面的可信度统计覆盖测试技术的测试用例生成和终止的流程。

摘要： 本文首先介绍了用于指导测试用例生成的理论基础,重点论述了测试用例各种产生方式和衡量测试终止的指标,给出了基于运行剖面的可信度统计覆盖测试技术的测试用例生成和终止的流程。

摘要： 本文首先介绍了用于指导测试用例生成的理论基础,重点论述了测试用例各种产生方式和衡量测试终止的指标,给出了基于运行剖面的可信度统计覆盖测试技术的测试用例生成和终止的流程。

摘要： 本文首先介绍了用于指导测试用例生成的理论基础,重点论述了测试用例各种产生方式和衡量测试终止的指标,给出了基于运行剖面的可信度统计覆盖测试技术的测试用例生成和终止的流程。

摘要： 本文首先介绍了用于指导测试用例生成的理论基础,重点论述了测试用例各种产生方式和衡量测试终止的指标,给出了基于运行剖面的可信度统计覆盖测试技术的测试用例生成和终止的流程。

摘要： 本文首先介绍了用于指导测试用例生成的理论基础,重点论述了测试用例各种产生方式和衡量测试终止的指标,给出了基于运行剖面的可信度统计覆盖测试技术的测试用例生成和终止的流程。

摘要： 本发明公开一种自检随机测试方法及随机循环测试装置，S1、控制单元调用随机指令生成器，并将随机指令生成器生成的运算控制核心的随机指令段和运算核心的随机指令段分别嵌入运算控制核心的程序框架和运算核心的程序框架中，形成汇编程序；S2、控制单元根据程序结构调用编译脚本，将生成的汇编程序编译成可执行的随机测试程序；S3、编译完成后，控制单元调用测试管理系统运行S2中生成的可执行的随机测试程序，并监控测试结果；S4、测试完返回控制单元，等待产生新的随机测试程序，进行下一次测试。本发明通过生成不需要依赖模拟器的随机测试程序，更高效地暴露更多的处理器软硬件设计及环境问题，弥补硅前验证效率低、覆盖不全面的问题。

摘要： 一种基于谓词自适应随机测试的测试用例集扩增方法，程序中的分支条件表达式称为分支，由分支条件回溯至输入域的表达式称为谓词，用于回归测试，结合软件修改分析的白盒测试技术与自适应随机测试ART的黑盒测试技术，首先进行谓词提取，然后通过谓词距离引导ART进行测试用例集扩增。本发明方法结合软件修改分析的白盒测试技术与ART的黑盒测试技术，从而达到较低成本的测试用例集的有效扩增。

摘要： 本发明公开了一种在指令级随机测试中支持EJTAG测试的方法，包括读取并解析指令模版；从指令库中选取指令；产生合法指令及相关的附加信号；对指令进行分类处理；将指令分别送入指令级模拟器以及仿真环境；在所述的指令级模拟器中执行送入的指令，得到所述指令的在指令级模拟器中的仿真结果；在所述的仿真环境中执行送入的指令，得到执行结果，对待验证处理器设置断点；将指令级模拟器的执行结果送入仿真环境，用于与仿真环境得到的指令执行结果进行比较；判断是否发生了调试断点例外，若发生则进行调试处理，并发出相应的警告，否则比较运行结果。

摘要： 本发明公开一种自检随机测试方法及随机循环测试装置，S1、控制单元调用随机指令生成器，并将随机指令生成器生成的运算控制核心的随机指令段和运算核心的随机指令段分别嵌入运算控制核心的程序框架和运算核心的程序框架中，形成汇编程序；S2、控制单元根据程序结构调用编译脚本，将生成的汇编程序编译成可执行的随机测试程序；S3、编译完成后，控制单元调用测试管理系统运行S2中生成的可执行的随机测试程序，并监控测试结果；S4、测试完返回控制单元，等待产生新的随机测试程序，进行下一次测试。本发明通过生成不需要依赖模拟器的随机测试程序，更高效地暴露更多的处理器软硬件设计及环境问题，弥补硅前验证效率低、覆盖不全面的问题。

摘要： 本发明涉及一种用于嵌入式软件接口消息测试的随机测试方法及系统，该方法包括以下步骤：步骤1：根据被测试嵌入式软件对象的接口消息协议，以设定脚本语言描述接口消息体，并确定消息体中每个字段的赋值策略；步骤2：根据输入的测试策略，选择一种测试接口消息的测试工作模式；步骤3：根据选定的测试工作模式，模拟通信对象给被测试对象发送消息序列；步骤4：接收并解析被测试对象的消息，并记录对模拟通信对象发送消息的反馈，作为之后发送消息的决策因素。与现有技术相比，本发明具有在各种不同的测试策略间无成本地、迅速地来回切换等优点。

摘要： 本发明公开了一种带约束测试模型的动态随机测试方法及装置，涉及系统测试领域，其具体的测试步骤过程为首先根据系统的初始禁止元组进行推导得到系统的最小禁止元组集；之后根据推导得出的最小禁止元组集初始化每个参数Pi所对应的参数值vj的选取概率；最后进行测试用例选取，本发明的优点在于：每次在选取到一条新的测试用例后，动态的调整所有参数的取值概率，减少测试用例冗余的情况。由此方法，我们可以在增加部分计算开销的前提下，得到一组合理有效的测试用例集，从而在同等规模的测试用例集下覆盖更多的测试元组。

摘要： 本发明公开了一种基于候选测试用例集迭代的自适应随机测试方法，通过减少随机生成的候选测试用例数量，降低自适应随机测试中候选测试用例与已执行测试用例之间的计算开销，提高自适应随机测试的时间性能。本发明主要包括：1、确定输入域的范围；2、在输入域中随机生成第一个测试用例；3、随机生成N个候选测试用例构成候选测试用例集；4、采用FSCS_ART算法选出下一个测试用例；5、更新候选测试用例集，保留K个相似性较低的候选测试用例，其余丢弃。6、随机生成N‑K个测试用例补充进候选测试用例集。重复4‑6，直到找到程序错误。通过实验验证，本发明的方法与FSCS_ART相比，在维持相同算法性能情况下，仅需要约50％的时间开销。

摘要： 一种基于谓词自适应随机测试的测试用例集扩增方法，程序中的分支条件表达式称为分支，由分支条件回溯至输入域的表达式称为谓词，用于回归测试，结合软件修改分析的白盒测试技术与自适应随机测试ART的黑盒测试技术，首先进行谓词提取，然后通过谓词距离引导ART进行测试用例集扩增。本发明方法结合软件修改分析的白盒测试技术与ART的黑盒测试技术，从而达到较低成本的测试用例集的有效扩增。

摘要： 本发明公开了一种在指令级随机测试中支持EJTAG测试的方法，包括步骤：a)在指令库中添加EJTAG调试指令SDBBP/DRET；b)在指令模版中添加调试指令相关的约束；c)对指令级随机测试产生引擎进行改进；d)在指令级模拟器中加入调试指令SDBBP/DRET的执行机制，同时添加调试控制寄存器；e)在仿真环境中加入信号输入、输出和比较逻辑；f)在仿真环境提供的存储器中预存EJTAG调试例外处理程序。本发明对传统的指令级随机测试技术进行有效改造，在保持传统指令级随机测试优势的同时，有效支持包含EJTAG片上交叉调试器的微处理器核的测试和验证。

摘要： 本发明公开了一种随机测试方法、装置、设备及存储介质，该方法包括：确定需测试的存储芯片为待测试芯片，获取多个随机地址值；确定任意的随机地址值为当前地址值，产生随机数据为当前随机数，在所述待测试芯片中与当前地址值对应的区域内实现擦除的测试、基于当前随机数实现写入及读取的测试，得到相应的测试结果；判断是否存在未作为当前地址值的随机地址值，如果是，则确定未作为当前地址值的任意随机地址值为当前地址值，执行产生随机数据为当前随机数的步骤，否则，确定完成对所述待测试芯片的随机测试。本申请实现对存储芯片中多个随机位置对应区域的测试，不同于对存储芯片中各位置的遍历测试，从而能够有效减少测试时间，提高测试效率。