热丝助PECVD制备多晶硅薄膜的结构特点

摘要

将热丝(钨丝)作为催化器平等地抛引入等离子体增强化学气相沉积,建立热丝助PECVD沉积系统.在固定沉积气压、氢稀释度、射频功率和300℃衬底温度的条件下,研究不同钨丝温度T<,f>对硅薄膜晶化的影响.结果表明,随着T<,f>的提高,沉积速率、硅薄膜晶化程度和晶粒大小明显增加,呈现半高宽为0.2度,(220)优化生长方向,获得了高晶态比(0.95)的多晶硅薄膜.Raman散射谱Si-Si TO峰位于520.5cm<'-1>,半高宽为7.1cm<'-1>,表明热丝的引入有很好的晶化增强效果.

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