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寄生电容

寄生电容的相关文献在1957年到2022年内共计611篇,主要集中在无线电电子学、电信技术、电工技术、自动化技术、计算机技术 等领域,其中期刊论文264篇、会议论文27篇、专利文献101048篇;相关期刊152种,包括仪表技术与传感器、电工技术学报、电力电子技术等; 相关会议24种,包括第十七届全国半导体集成电路、硅材料学术会议、2011’全国半导体器件产业发展、创新产品和新技术研讨会、中国电源学会第十九届学术年会等;寄生电容的相关文献由1306位作者贡献,包括王泽毅、李小进、王世山等。

寄生电容—发文量

期刊论文>

论文:264 占比:0.26%

会议论文>

论文:27 占比:0.03%

专利文献>

论文:101048 占比:99.71%

总计:101339篇

寄生电容—发文趋势图

寄生电容

-研究学者

  • 王泽毅
  • 李小进
  • 王世山
  • 石艳玲
  • 贺青
  • 黎坡
  • 何裕
  • 侯劲松
  • 周伟
  • 孙亚宾
  • 期刊论文
  • 会议论文
  • 专利文献

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排序:

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    • 刘宏洋; 张萌; 何清林
    • 摘要: 三相LLC谐振变换器在轻载工况运行时,会出现输出侧电压漂高失控的现象,这是由于变压器匝间电容与副边整流管的结电容的存在共同形成寄生电容,在重载时,寄生电容对变换器输出的影响特别小,可以忽略不记,但是在轻载时,寄生电容被充电后放电过程对变换器输出的影响特别大,会改变直流增益曲线的状态,所以要对寄生电容做特殊考虑,以不至于影响变换器负载工况全范围的工作,通过合理设计Q值、k值使变换器稳定运行。
    • 杨帅康; 汪洋; 苏雪冰; 张玉叶; 杨红娇
    • 摘要: 本文研究了P型保护环对双向可控硅(DDSCR)静电防护器件寄生电容的影响。在低压工艺下制备了不带保护环的低压双向可控硅(LVDDSCR)和带保护环的低压双向可控硅(LVDDSCR_GR)器件,在高压工艺下制备了不带保护环的高压双向可控硅(HVDDSCR)和带保护环的高压双向可控硅(HVDDSCR_GR)器件。利用B1505A功率器件分析仪测试并讨论了器件的电容特性,同时利用传输线脉冲(TLP)测试仪分析了它们的静电性能。结果表明,保护环的增加对器件静电防护能力无较大影响,但在1MHz的频率下,LVDDSCR_GR的寄生电容由LVDDSCR的1135fF增加到1463fF,HVDDSCR_GR的寄生电容由HVDDSCR的810fF增加到1740fF,其根本原因是由于保护环引入了N型隔离环与P型外延层之间的寄生电容
    • 王秋实; 孟少鹏; 吴宏强
    • 摘要: 在芯片物理设计的完成阶段,为了满足设计规则中金属密度要求,需要填充冗余金属。增加的金属层会产生额外的寄生电容,导致芯片的时序结果恶化。40 nm以上的工艺节点中,这些额外增加的寄生电容对于时序的影响在0.12%左右,这个时序偏差甚至比静态时序分析与SPICE仿真之间的误差还小,在芯片设计时通常忽略它。然而在使用FinFET结构的先进工艺节点中,这个时序偏差必须要进行修复。以一款FinFET结构工艺的工业级DSP芯片为实例,使用QRC工具对比了芯片填充冗余金属前后寄生电容的变化;使用Tempus工具分析了芯片时序结果发生偏差的原因;最后提出了一种基于Innovus平台的时序偏差修复方法,时序结果通过签核验证,有效提高了时序收敛的效率。
    • 王议锋; 陈晨; 陈博; 张双乐; 张明智
    • 摘要: 针对LLC谐振变换器工作在高频条件下对平面变压器寄生电容较为敏感的问题,采用磁集成技术对变压器的二次绕组进行优化设计,使得变压器寄生电容和绕组涡流损耗的综合效果最优。该文对平面变压器层间寄生电容的影响因素进行了具体分析,在极坐标系下建立变压器寄生电容的数学模型,并归纳出各影响因素在不同电流情况下的作用效果。该文提出了两种绕组形状的优化设计方案,从减小绕组正对面积的角度改善变压器的寄生电容。利用有限元仿真软件Maxwell,搭建变压器的3D仿真模型,根据仿真结果对比了采用不同优化方案时寄生电容的改善效果,验证了理论分析的可靠性。为了兼顾变换器的寄生电容和涡流损耗,给出了绕组面积设计的优化范围,并确定了最终的优化方案。最后,采用改良后的磁集成平面变压器,搭建了一台500W的样机,效率最高可达97.53%。
    • 杨小康; 马海东; 俞建成
    • 摘要: 镜像电荷检测器(ICD)的结构简单、成本低廉,是质谱领域中唯一一种具有无损特性的检测器。研究了大气压条件下传统圆柱形ICD的性能,结果表明:此时感应电流极低,寄生电容为噪声的主要来源之一。基于传统的圆柱形ICD,设计了一种新型半圆锥形ICD,仿真结果表明:不同粒子速度下,信号的峰峰值提高了61.4%~69%。首次发现检测电极与屏蔽装置的间距也会影响信号的强度,当气流速度为3 m/s、间距为0.5 mm时,新型ICD的信号强度最高可达原来的2.86倍,电荷—电压之间的放大增益A_(Q-V)为0.061 mV/e^(-),同时寄生电容降低了36.4%。本文对ICD脱离真空使用限制,实际运用于大气压环境下,通过低速气流载运带电粒子的质谱仪器具有重要意义。
    • 陈之勃
    • 摘要: 分析了氮化镓FET的栅极动态参数,并与硅MOSFET加以对比.分析了栅极驱动电路等效电路及电路模型,分析了驱动回路寄生电感应对驱动回路阻尼比的影响.分析了阻尼比与寄生电感、寄生电容、栅极串联电阻的关系.为了获得合适的阻尼比需要尽可能低的寄生电感,适当增加串联电阻,可以获得"无"超调量的驱动响应.简述了米勒效应会导致栅极电压振铃以及可能形成的误导通,通过施加栅极负偏置电压可以消除,也可以采用零电压开通消除米勒效应,SPWM变换器只能采用硬开关工作模式.
    • 姚宏洋; 文卫兵; 谢晔源; 杨勇
    • 摘要: 柔性直流输电工程已迈入特高压时代,现有柔性直流换流阀(VSC阀)的均压屏蔽设计已无法满足特高压应用场合。为解决±800 kV VSC阀塔顶部均压管母表面电场强度过大的问题,文中首先利用PTC Creo与ANSYS联合建模技术完成复杂阀塔结构的三维建模与静电场有限元仿真,通过增加与顶部均压管母等电位连接的顶部屏蔽板,有效降低阀塔顶部均压管母及子模块的表面电场强度。然后,提取顶部屏蔽板增加前后的阀塔对地寄生电容参数,分析顶部屏蔽板对操作冲击下模块电压分布的影响。最后,研究阀塔不同均压部件间距对最大电场强度分布的影响,完成±800 kV VSC阀塔均压优化设计,并在阀塔样机上进行冲击电压试验。文中所提优化措施提升了VSC阀在特高压应用场景的安全运行能力,为VSC阀在特高压柔性直流输电工程的应用及设计提供借鉴。
    • 宣佳卓; 许景慧; 王跃; 李菀茹
    • 摘要: CLLLC谐振变换器通常采用传统变频调制(FM)方式,然而在变换器处于轻载状态时,会产生输出电压漂高、增益不单调、运行效率降低的问题.为解决这些问题,在详细分析MOSFET寄生电容对CLLLC谐振变换器工作模态和电压增益特性影响的基础上,提出了一种最优三脉冲间歇控制方法.通过时域分析计算结果能够准确给出首脉冲宽度,解决了变换器轻载下的问题,显著提升了变换器的运行效率.最后搭建了一台最大输出功率150 W、输入电压80 V、输出电压20~75 V的实验平台,通过实验分析了轻载时的增益曲线,通过PSIM9.0仿真模型对所提控制方法的高效性和稳定性进行了验证.
    • 姚宏洋; 文卫兵; 谢晔源; 杨勇
    • 摘要: 柔性直流输电工程已迈入特高压时代,现有柔性直流换流阀(VSC阀)的均压屏蔽设计已无法满足特高压应用场合.为解决±800 kV VSC阀塔顶部均压管母表面电场强度过大的问题,文中首先利用PTC Creo与ANSYS联合建模技术完成复杂阀塔结构的三维建模与静电场有限元仿真,通过增加与顶部均压管母等电位连接的顶部屏蔽板,有效降低阀塔顶部均压管母及子模块的表面电场强度.然后,提取顶部屏蔽板增加前后的阀塔对地寄生电容参数,分析顶部屏蔽板对操作冲击下模块电压分布的影响.最后,研究阀塔不同均压部件间距对最大电场强度分布的影响,完成±800 kV VSC阀塔均压优化设计,并在阀塔样机上进行冲击电压试验.文中所提优化措施提升了VSC阀在特高压应用场景的安全运行能力,为VSC阀在特高压柔性直流输电工程的应用及设计提供借鉴.
    • 李致铭; 兰哲冲; 金楷越; 张杰; 张鸿
    • 摘要: 针对芯片制造和应用环境引入的大寄生电容严重降低飞法级电容传感器读出电路输出动态范围的问题,提出了一种带有自动增益控制的电容传感器全差分读出电路.该电路采用基于开关电容电路实现电容电压转换,利用带3位自动增益控制的全差分放大器放大传感器信号并自适应地抑制大寄生电容产生的电压;放大器输出的差分电压信号由一个12位逐次逼近型模数转换器转换为数字量并输出.该电路采用0.18μm CMOS工艺设计实现,电源电压为3.3 V.仿真结果表明,该电路的电容检测范围大于1pF,检测精度小于1fF,能容忍的寄生电容范围为2~10pF,单次测量时间为1.2 ms.该电路的功耗为1.8 mW,版图面积为1.2 mm×0.89 mm,可应用在电容型触摸屏和微型加速度计等设备中以提高电容测量的精度.
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