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粉末压片

粉末压片的相关文献在1995年到2022年内共计279篇,主要集中在化学、冶金工业、地质学 等领域,其中期刊论文188篇、会议论文24篇、专利文献67388篇;相关期刊101种,包括福建分析测试、岩矿测试、南方金属等; 相关会议15种,包括帕纳科第13届用户X射线分析仪器技术交流会、2011年全国化学与光谱分析会议、帕纳科第11届用户X射线分析仪器技术交流会等;粉末压片的相关文献由764位作者贡献,包括刘江斌、李小莉、武映梅等。

粉末压片—发文量

期刊论文>

论文:188 占比:0.28%

会议论文>

论文:24 占比:0.04%

专利文献>

论文:67388 占比:99.69%

总计:67600篇

粉末压片—发文趋势图

粉末压片

-研究学者

  • 刘江斌
  • 李小莉
  • 武映梅
  • 王毅民
  • 党亮
  • 张乔
  • 张爱芬
  • 朵勇
  • 李松
  • 杨旗风
  • 期刊论文
  • 会议论文
  • 专利文献

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    • 李迎春; 张磊; 尚文郁
    • 摘要: 目前土壤中Se主要采用原子荧光光谱法测定,存在用酸量大、前处理相对复杂等缺点,对于高含量Se的测定则需要高倍稀释,无疑会扩大分析误差。本文采用粉末压片波谱-能谱复合X射线荧光光谱法测定湖北富硒土壤样品中的Se等17个主次量元素,波谱分析10个元素的同时,能谱分析As、Cu、Rb、Sr、Zr、Ba、Ni等7个元素,大幅节省了测定时间。通过将不同国家标准物质按比例混合的方式配置混合标准样品,解决了现有Se标准物质在5~72μg/g含量范围不足的问题。对于高含量Se的测定,通过谱图分析,波谱数据优于能谱数据,对其精密度、准确度考核,相对标准偏差(RSD)小于10%,高含量Se样品的RSD小于0.70%,能够满足Se含量大于3.00μg/g土壤样品的定量分析要求,同时可提供16个主次量元素的定量或近似定量分析结果。
    • 张兵兵; 张锦涛; 吕胜男; 杨园; 赵文志
    • 摘要: 本文采用粉末直接压片制样,波长色散X射线荧光光谱法对地质样品中的卤族元素(F、Cl、Br)进行同时测定。通过标准物质建立工作曲线,采用经验系数法、背景内标法和Rh Kα康普顿散射内标法校正F、Cl和Br的基体效应和谱线干扰。确认了Mo Lγ1对Cl Kα,As Kβ对Br Kα存在谱线干扰,本方法测定标准物质中Cl和Br的相对误差(RE)均小于7%,F相对误差均小于12%,F、Cl和Br的精密度(RSD)均小于6%,并与氟离子计、元素分析仪和离子色谱仪的测试结果进行比较,准确度、精密度和检出限符合DZ/T0258-2014《多目标区域地球化学调查规范(1︰250000)》要求。具有操作简便、准确度高、成本低的特点,同时通过实际工作验证,本方法适用于测定大批量的地质样品。
    • 王浩
    • 摘要: X荧光光谱法以其高灵敏度、高精度、较为便捷、快速和经济的测定和分析手段在对地球化学元素分析的各类分析方法中首屈一指,尤其在1:50000和1:200000区域地球化学调查工作中,该法以其对环境危害小、检测时间短、低成本等优势在各种检测分析方法中让人青睐,在各检验检测机构中起到了中流砥柱的作用.本法选取不同质量范围的标准物质,进行精密度实验和再现性实验,以期达到检验仪器稳定性能和检验方法成熟的目的.
    • 姚泽; 王干珍; 何功秀; 彭君; 叶鹏
    • 摘要: 采用向样品中加入硼酸降低基体效应,加入氧化镧稳定样品总质量吸收系数,建立固体粉末压片制样-X射线荧光光谱法测定锡矿石中锡含量的方法。通过将标准物质按一定比例混合配制和选取部分自制标样来补充标准物质样品,以解决锡矿石标准物质样品缺乏的问题。实验优化了稀释比,确定了以最佳稀释比为m(矿物质样品)∶m(硼酸)∶m(氧化镧)=1.0∶2.0∶0.5。在最优的实验条件下,Sn的荧光强度(kcps)与Sn浓度c Sn呈良好的线性关系,R 2=0.9989,锡元素的最低检出限为0.005%,测定范围在0.015%~4.47%。样品的混合均匀性实验表明各元素测定结果的相对标准偏差(RSD,n=6)在1.0%~2.6%。对3个不同含量段的物质进行测定来验证方法的准确度和精密度,准确度(Δlg C)分别为0.0082~0.0367,均小于0.04,精密度(RSD)分别为0.39%~1.2%,准确度和精密度均符合地质样品分析规范要求。粉末压片-X射线荧光光谱法测定锡矿石中锡含量具有线性范围宽、分析时间短、重现性好、精度高且操作简单等特点,能应用于地质、环境、材料等领域。
    • 黄秀辉
    • 摘要: 通过配制一组不同梯度含量的含硒玻璃标样,利用X射线荧光光谱仪粉末压片法,建立玻璃中微量着色元素硒含量的测定方法。测定结果相对标准偏差RSD%不超过10%;通过加标实验分析准确性令人满意,回收率允许限90%〜110%,可满足生产及科研的需要,且该方法操作简单。
    • 龚俊滔; 赵能; 余念; 闫月娥
    • 摘要: 实验采用粉末压片法制样,使用能量色散X射线荧光光谱法(XRF),实现了对钒钛磁铁矿中铁、 钒、 钛和硅含量的快速测定.通过将测定值与标准值进行比较,得出最优实验条件,包括样品粒径、压力、保压时间等.所得四种元素的检出限在0.24~3.93 mg·L-1之间,相对标准偏差(n=8)在5%以下,且标准样品的测定值与标准值相符,实际样品的检测结果与化学法一致.本方法快速、准确,适用于钒钛磁铁矿中铁、钒、钛和硅含量的测定.
    • 赵红坤; 于阗; 肖志博; 郝亚波; 刘亚轩
    • 摘要: 均匀性是标准物质三大特性之一.X射线荧光光谱法(XRF),精密度高,可实现多元素同时分析,是地球化学标准物质均匀性检验重要方法之一.目前,应用XRF对标准物质进行均匀性检验还存在争议.由于均匀性检验要求称样量为最小取样量,一般地球化学标准物质的最小取样量为0.1 g,而采用粉末压片-XRF进行均匀性检验时称样量为4 g左右,得到的结果在理论上不足以支撑样品在最小取样量条件下是否均匀.本研究改变了以往压片模具的大小,采用0.1 g样品粉末压片法制样,在对仪器条件进行优化的基础上,选取了3个土壤(GBW07425,GBW07428,GBW07388)和3个水系沉积物(GBW07375,GBW07378,GBW07379)标准物质,每个标准物质取15瓶,每瓶取样2份,共制样片30个,对SiO2,Al2O3,TFe2O3,MgO,CaO,Na2 O,K2 O,Mn,Ti和P共10个主量组分进行了均匀性检验,根据单因素方差分析的F值、测定值的标准偏差(s)和相对标准偏差(RSD)综合判定样品的均匀性.通过理论计算,在样品照射半径为5 mm的条件下,所测10个主量组分的最小取样量小于0.1 g.0.1 g压片测定结果表明,本研究中的方法准确度高,相对误差小于16%,精密度高,相对标准偏差不超过4.3%,F值小于临界值,标准物质的均匀性良好.在最小取样量为0.1 g的条件下,应用X-射线荧光光谱法进行均匀性检验,不仅能够解决地球化学标准物质均匀性检验中长期存在的争议问题,还可为X-射线荧光光谱法在其他领域的应用提供技术支持.
    • 臧世阳; 武素茹; 郑云龙; 亓红英; 杨东奇
    • 摘要: 采用粉末压片-X射线荧光光谱法,建立了氧化锌富集物中ZnO、C1、As、Cd、Fe的同时测定方法,并建立了针对限量标准的快速筛查流程.结果 表明,该方法适用于锌元素以氧化锌物相存在的氧化锌富集物中元素的检测,各元素检测线性范围如下:ZnO(23.66%~73.04%)、Fe(0.073%~10.25%)、Cl(3.24%~25.24%)、As(0.02%~0.095%)、Cd(0.038%~1.36%);方法检出限依次为105.2 ppm、4.6 ppm、47.3 ppm、198.1 ppm、4.5 ppm,相对标准偏差小于0.27%.
    • 李金明; 方彦霞; 王红燕
    • 摘要: 主要讨论X-射线荧光仪检测铅精矿中多种元素含量的方法.X-射线荧光仪常用的分析样品类型有融片样和粉末压片样,粉末压片制样简单、成本低、速度快,是X-射线荧光仪常用的制样方式.X-射线荧光仪分析粉末压片样中多种元素的含量,在实际应用中比化学分析有明显的优势,耗时少,效率高.波长色散X-射线荧光仪的优点就是能依据批量样品的化学定值,建立相应的多元素分析工作曲线,做到一次制样,一次检测多种元素的含量,省时省力,在现场和实验室得到广泛应用.
    • 臧世阳; 武素茹; 郑云龙; 亓红英; 杨东奇
    • 摘要: 采用粉末压片-X射线荧光光谱法,建立了氧化锌富集物中ZnO、Cl、As、Cd、Fe的同时测定方法,并建立了针对限量标准的快速筛查流程。结果表明,该方法适用于锌元素以氧化锌物相存在的氧化锌富集物中元素的检测,各元素检测线性范围如下:ZnO(23.66%73.04%)、Fe(0.073%10.25%)、Cl(3.24%25.24%)、As(0.02%0.095%)、Cd(0.038%1.36%);方法检出限依次为105.2 ppm、4.6 ppm、47.3 ppm、198.1 ppm、4.5 ppm,相对标准偏差小于0.27%。
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