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确定半导体IC可靠性可比性的方法

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摘要

一种用于在可靠性寿命测试中判断组1(一种产品、组件或系统)是否具有比组2更长寿命的方法。该方法无需假设分布的形式，并且其数据分析方法可应用于所有种类的数据和分布。该方法提供了比参数方法更准确的解决方案。在对双峰、早期失效和失效机制预先检查之后，本发明通过非参数方法采用具有良好精确度的数字方法；被测数据可以是经终检、区间或双峰的，并不局限于完全类型的简单情况。本发明可以用于确定所有类型和级别上的可靠性测试的多样性。本发明的方法基于可比性指标来执行确定，可比性指标是通过对被比较的两个组的可靠性函数之间的经加权的差异求积分而导出的。若干指标用于使可靠性可比性有效。其他指标用于使我们的发明更灵活。

著录项

  • 公开/公告号CN100442295C

    专利类型发明授权

  • 公开/公告日2008-12-10

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司;

    申请/专利号CN200510028650.8

  • 发明设计人 简维廷;杨斯元;

    申请日2005-08-05

  • 分类号G06F17/50(20060101);

  • 代理机构11258 北京东方亿思知识产权代理有限责任公司;

  • 代理人王怡

  • 地址 201203 上海市浦东新区张江路18号

  • 入库时间 2022-08-23 09:01:49

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2020-07-24

    未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G06F17/50 授权公告日:20081210 终止日期:20190805 申请日:20050805

    专利权的终止

  • 2012-01-11

    专利权的转移 IPC(主分类):G06F17/50 变更前: 变更后:

    专利申请权、专利权的转移

  • 2012-01-11

    专利权的转移 IPC(主分类):G06F 17/50 变更前: 变更后:

    专利申请权、专利权的转移

  • 2008-12-10

    授权

    授权

  • 2008-12-10

    授权

    授权

  • 2007-04-04

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2007-04-04

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2007-02-07

    公开

    公开

  • 2007-02-07

    公开

    公开

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