Universite catholique de Louvain, Microwave Lab. Place du Levant, 3, 1348 Louvain-la-Neuve, Belgium;
机译:部分耗尽的SOI与受N阱保护的体硅MOSFET相比:针对低压低功率应用的高温RF研究
机译:使用部分耗尽(PD)SOI CMOS动态阈值(DTMOS)技术的具有快速标签比较功能的新型低压内容可寻址内存(CAM)单元
机译:部分耗尽的薄膜SOI MOSFET在低温下的阈值电压不稳定性
机译:用于低电压和微波应用的部分耗尽SOI动态阈值MOSFET
机译:适用于部分耗尽型绝缘体上硅(SOI)MOSFET的面积有效体接触。
机译:面向低电压低能耗的超薄绝缘体上硅MOSFET低频噪声行为的经验和理论模型
机译:使用耗尽MOSFET进行低压收集应用的子阈值启动泵