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1.
A RTL Testability Analyzer Based on Logical Virtual Prototyping
机译:
基于逻辑虚拟样机的RTL可测性分析器
作者:
Li Guan
;
rnChengqi Cheng
会议名称:
《16th Asian Test Symposium》
|
2007年
2.
Optimum Test Set for Bridging Fault Detection in Reversible Circuits
机译:
用于可逆电路中桥接故障检测的最佳测试仪
作者:
X.F.Chen
;
rnJing M.Chen
;
rnWei M.Ju
;
rnL.L.Ren
会议名称:
《16th Asian Test Symposium》
|
2007年
3.
High-MDSI: A High-level Signal Integrity Fault Test Pattern Generation Method for Interconnects
机译:
高MDSI:用于互连的高级信号完整性故障测试模式生成方法
作者:
Chun-Pin Chang
;
rnShang-Te Tsai
;
rnWu Zhi-Feng
;
rnTa-Ching Liang
会议名称:
《16th Asian Test Symposium》
|
2007年
关键词:
signal integrity;
interconnect test;
RLC interconnect model;
fault modeling;
4.
Area Overhead and Test Time Co-Optimization through NoC Bandwidth Sharing
机译:
通过NoC带宽共享来共同优化区域开销和测试时间
作者:
Ling Nanyan
;
rnLiu Zhiming
;
rnZeng Nan
会议名称:
《16th Asian Test Symposium》
|
2007年
5.
Testing Comparison Faults of Ternary Content Addressable Memories with Asymmetric Cells
机译:
用不对称单元测试三元内容可寻址存储器的比较故障
作者:
Zhang Hai-lin
;
rnLIU Can-de
;
rnHE Bao-yin
;
rnLI Mao-tian
;
rnYie Yi
会议名称:
《16th Asian Test Symposium》
|
2007年
6.
Influence of Threshold Voltage Deviations on 90nm SRAM Core-Cell Behavior
机译:
阈值电压偏差对90nm SRAM核心单元行为的影响
作者:
Mingfeng Li
;
rnChunhui Chen
;
rnBo Yuan
;
rnZhenyu Zhu
;
rnHuan Zhou
会议名称:
《16th Asian Test Symposium》
|
2007年
7.
Block Marking and Updating Coding in Test Data Compression for SoC
机译:
SoC测试数据压缩中的块标记和更新编码
作者:
DU Hui-shi
;
rnLIU Zhi-ming
;
rnZENG Nan
会议名称:
《16th Asian Test Symposium》
|
2007年
8.
A Hybrid BIST Scheme for Multiple Heterogeneous Embedded Memories
机译:
多种异构嵌入式存储器的混合BIST方案
作者:
Yao-lin Liu
;
rnMin Fan
;
rnXiao-yu Yang
;
rnHui Liu
会议名称:
《16th Asian Test Symposium》
|
2007年
9.
Evaluation of a BIST Technique for CMOS Imagers
机译:
CMOS成像仪的BIST技术评估
作者:
Liu Yuming
;
rnFeng Zhongjiang
;
rnGe Jingfeng
;
rnXia Zhengrong
会议名称:
《16th Asian Test Symposium》
|
2007年
10.
Built-In Speed Grading with a Process-Tolerant ADPLL
机译:
内置速度分级和可容忍的ADPLL
作者:
Zhong Xie
;
rnLiang Wu
;
rnZi Ye
会议名称:
《16th Asian Test Symposium》
|
2007年
11.
Current Testable Design of Resistor String DACs
机译:
电阻器串DAC的当前可测试设计
作者:
Xi Wu
;
rnYu Fang
;
rnBin Chen
;
rnZhou Huang
会议名称:
《16th Asian Test Symposium》
|
2007年
12.
Low-Capture-Power Test Generation by Specifying A Minimum Set of Controlling Inputs
机译:
通过指定一组最小的控制输入来产生低捕获功率的测试
作者:
TIAN Gen
;
rnLIU Miao-long
会议名称:
《16th Asian Test Symposium》
|
2007年
13.
Scan Power Reduction Through Scan Architecture Modification And Test Vector Reordering
机译:
通过修改扫描架构和测试向量重新排序来降低扫描功率
作者:
Jin Chen
;
rnDongqing Li
;
rnQingzhou Meng
;
rnGuowucai Yong
会议名称:
《16th Asian Test Symposium》
|
2007年
关键词:
scan chain;
scan power;
and test vector reordering;
14.
Response Inversion Scan Cell (RISC): A Peak Capture Power Reduction Technique
机译:
响应反转扫描单元(RISC):降低峰值捕获功率的技术
作者:
Hengjian Tong
;
rnYun Zhang
;
rnZhenfeng Shao
会议名称:
《16th Asian Test Symposium》
|
2007年
15.
Improving Test Pattern Compactness in SAT-based ATPG
机译:
在基于SAT的ATPG中提高测试模式的紧凑性
作者:
LIANG Shou-zhen
会议名称:
《16th Asian Test Symposium》
|
2007年
16.
Test Generation for Transistor Shorts using Stuck-at Fault Simulator and Test Generator
机译:
使用卡住的故障模拟器和测试生成器生成晶体管短路的测试
作者:
Donghai Li
;
rnBin Ai
;
rnXia Li
;
rnQiusheng Wu
;
rnXiaoguang Xie
会议名称:
《16th Asian Test Symposium》
|
2007年
17.
Fault-dependent/independent Test Generation Methods for State Observable FSMs
机译:
状态可观FSM的故障相关/独立测试生成方法
作者:
Wang Fang
;
rnLi Xia
;
rnZhuo Li
;
rnTao Haiyan
;
rnXia Lihua
会议名称:
《16th Asian Test Symposium》
|
2007年
关键词:
State-observable FSMs;
Fault-dependent test generation;
Fault-independent test generation;
18.
Improving Performance of Effect-Cause Diagnosis with Minimal Memory Overhead
机译:
以最小的内存开销提高效果原因诊断的性能
作者:
Hiromi Okada
;
rnSatoshi Ohno
会议名称:
《16th Asian Test Symposium》
|
2007年
19.
An Efficient Diagnostic Test Pattern Generation Framework Using Boolean Satisfiability
机译:
使用布尔可满足性的高效诊断测试模式生成框架
作者:
Mamattursun.Eziz
;
rnHamid.Yimit
;
rnGulgina.Halmurat
;
rnGulmira.Amrulla
会议名称:
《16th Asian Test Symposium》
|
2007年
20.
Programmable Logic BIST for At-speed Test
机译:
可编程逻辑BIST用于全速测试
作者:
Jianbo Xu
;
rnZhenhua Liu
;
rnWenYa
会议名称:
《16th Asian Test Symposium》
|
2007年
21.
Improving Circuit Robustness with Cost-Effective Soft-Error-Tolerant Sequential Elements
机译:
具有成本效益的软容错顺序元素,提高了电路的鲁棒性
作者:
Xiao-ping Yu
;
rnGuo-dong Yang
;
rnDi You
;
rnShao-bin Zhan
会议名称:
《16th Asian Test Symposium》
|
2007年
22.
CREA: A Checkpoint Based Reliable Micro-architecture for Superscalar Processors
机译:
创建:基于检查点的超标量处理器的可靠微体系结构
作者:
SUN Xiao yu
;
rnSU Fen zhen
;
rnLV Ting ting
;
rnZHANG Dan dan
会议名称:
《16th Asian Test Symposium》
|
2007年
23.
Frequency Analysis Method for Propagation of Transient Errors in Combinational Logic
机译:
组合逻辑中瞬态误差传播的频率分析方法
作者:
Jing Zhang
;
rnYaolin Liu
;
rnXinming Chen
会议名称:
《16th Asian Test Symposium》
|
2007年
24.
Scan Testing for Complete Coverage of Path Delay Faults with Reduced Test Data Volume, Test Application Time, and Hardware Cost
机译:
扫描测试可完全覆盖路径延迟故障,并减少测试数据量,测试应用时间和硬件成本
作者:
Yi Zeng
;
rnDingsheng Liu
;
rnGuoqing Li
;
rnWenyang Yu
;
rnZhenchun Huang
;
rnCarol Song
会议名称:
《16th Asian Test Symposium》
|
2007年
25.
Effect of IR-Drop on Path Delay Testing Using Statistical Analysis
机译:
红外下降对使用统计分析的路径延迟测试的影响
作者:
Dingju Zhu
;
rnJianping Fan
会议名称:
《16th Asian Test Symposium》
|
2007年
26.
Low Power Reduced Pin Count Test Methodology
机译:
低功耗减少引脚数测试方法
作者:
Lin Hui
;
rnJing Haitao
;
rnZhang Lianpeng
会议名称:
《16th Asian Test Symposium》
|
2007年
27.
An Improved Test Case Generation Method of Pair-Wise Testing
机译:
双对测试的改进测试用例生成方法
作者:
Zhiqiang Lv
;
rnYa Wen
;
rnZhifeng Wu
;
rnHongshun Chen
;
rnJinghua Zhang
;
rnLan Cheng
会议名称:
《16th Asian Test Symposium》
|
2007年
关键词:
software testing;
pair-wise generation;
testing criterion;
2-dimension table;
software models;
28.
Reconsideration of Software Reliability Measurements No.4 of the series papers for dependable computing
机译:
关于可靠性计算的系列论文第4号软件可靠性测量的反思
作者:
Wang Shi-Dong
;
rnLiu Chang-Hua
;
rnWang Xin-Chuang
;
rnPan Yan-Yu
会议名称:
《16th Asian Test Symposium》
|
2007年
关键词:
Software Reliability Measurements;
Software Complexity;
Test Effectiveness;
Test Thoroughness;
29.
An Accurate Analysis of Microprocessor Design Verification
机译:
微处理器设计验证的准确分析
作者:
ZHAO Zhuo
;
rnLIU Zhiming
;
rnDU Huishi
会议名称:
《16th Asian Test Symposium》
|
2007年
30.
Optimized Assignment Coverage Computation in Formal Verification of Digital Systems
机译:
数字系统形式验证中的优化分配覆盖范围计算
作者:
Xie Liang
;
rnKaiwen Zhong
;
rnSun Cai ge
会议名称:
《16th Asian Test Symposium》
|
2007年
31.
Thermal-Safe Test Access Mechanism and Wrapper Co-optimization for System-on-Chip
机译:
片上系统的热安全测试访问机制和封装优化
作者:
Zhao Qing
;
rnLIN Hui
;
rnJIANG Liming
会议名称:
《16th Asian Test Symposium》
|
2007年
关键词:
SoC test;
thermal constraint;
wrapper design;
TAM design;
test scheduling;
32.
Design Reuse of on/off-Chip Bus Bridge for Efficient Test Access to AMBA-based SoC
机译:
设计复用片上/片外总线桥,以有效测试基于AMBA的SoC
作者:
Yingjun Sun
;
rnNing Ding
;
rnFei Cai
;
rnFei Meng
会议名称:
《16th Asian Test Symposium》
|
2007年
33.
A 2-ps Resolution Wide Range BIST Circuit for Jitter Measurement
机译:
用于抖动测量的2ps分辨率宽范围BIST电路
作者:
Wu xiaofang
;
rnWang Changwei
;
rnXu zhiyong
;
rnHu yueming
会议名称:
《16th Asian Test Symposium》
|
2007年
关键词:
cycle-to-cycle jitter;
jitter measurement;
built-in serf-test;
mixed-signal testing;
time-to-digital converter;
34.
Test Point Selections for a Programmable Gain Amplifier Using NIST and Wavelet Transform Methods
机译:
使用NIST和小波变换方法的可编程增益放大器的测试点选择
作者:
CHEN Zhenjie
;
rnLI Manchun
;
rnMAO Liang
;
rnLIU Yongxue
;
rnXU Jing
会议名称:
《16th Asian Test Symposium》
|
2007年
35.
Impact of Simultaneous Switching Noise on the Static behavior of Digital CMOS Circuits
机译:
同时开关噪声对数字CMOS电路静态性能的影响
作者:
LIN Zhilei
会议名称:
《16th Asian Test Symposium》
|
2007年
36.
A Reconfigurable Broadcast Scan Compression Scheme Using Relaxation Based Test Vector Decomposition
机译:
使用基于松弛的测试矢量分解的可重构广播扫描压缩方案
作者:
Qiao Yuliang
;
rnSun Taisen
;
rnZhao Shangmin
会议名称:
《16th Asian Test Symposium》
|
2007年
37.
Test Data and Test Time Reduction for LOS Transition Test in Multi-Mode Segmented Scan Architecture
机译:
多模式分段扫描架构中的LOS转换测试的测试数据和测试时间减少
作者:
Q.Sun
;
rnJ.Tan
;
rnS.Chen
会议名称:
《16th Asian Test Symposium》
|
2007年
38.
Multi-Frequency Modular Testing of SoCs by Dynamically Reconfiguring Multi-Port ATE
机译:
通过动态重新配置多端口ATE对SoC进行多频率模块化测试
作者:
Xiaobin Jin
;
rnHonghui Zhang
;
rnYinkang Zhou
会议名称:
《16th Asian Test Symposium》
|
2007年
39.
An Efficient Peak Power Reduction Technique for Scan Testing
机译:
用于扫描测试的高效降低峰值功率技术
作者:
Xiangnan Liu
;
rnFang Huang
;
rnPing Wang
会议名称:
《16th Asian Test Symposium》
|
2007年
40.
Using FPGA configuration memory to accelerate yield learning for advanced process
机译:
使用FPGA配置存储器加速高级过程的成品率学习
作者:
Hu Donghong
;
rnWang Hao
;
rnYang Jianming
;
rnZhang Ling
;
rnWang Ying
会议名称:
《16th Asian Test Symposium》
|
2007年
关键词:
Bit map;
Configuration memory;
FPGA;
Memory fail signature;
Yield improvement.;
41.
The Region-Exhaustive Fault Model
机译:
区域穷尽故障模型
作者:
Ping Zhang
;
rnPeter Atkinson
;
rnChangbao Yang
会议名称:
《16th Asian Test Symposium》
|
2007年
42.
Mining Sequential Constraints for Pseudo-Functional Testing
机译:
挖掘用于伪功能测试的顺序约束
作者:
Lei Wang
;
rnQiuming Cheng
会议名称:
《16th Asian Test Symposium》
|
2007年
43.
Estimating the Fault Coverage of Functional Test Sequences Without Fault Simulation
机译:
在没有故障仿真的情况下估计功能测试序列的故障覆盖率
作者:
FU Haiyue
;
rnLI Manchun
;
rnCHEN Zhenjie
;
rnHU Wei
会议名称:
《16th Asian Test Symposium》
|
2007年
44.
Fast Bridging Fault Diagnosis using Logic Information
机译:
利用逻辑信息快速桥接故障诊断
作者:
LI Ying
;
rnYU Shuiming
;
rnMA Long
;
rnLIU Yu
;
rnLI Qijun
会议名称:
《16th Asian Test Symposium》
|
2007年
45.
Fault Dictionary Based Scan Chain Failure Diagnosis
机译:
基于故障字典的扫描链故障诊断
作者:
Li Xu
;
rnQingwen Qi
;
rnLili Jiang
;
rnZhaiwei Chen
;
rnZhangbao Ma
会议名称:
《16th Asian Test Symposium》
|
2007年
46.
Improving Timing-Independent Testing of Crosstalk Using Realistic Assumptions on Delay Faults
机译:
使用延迟故障的实际假设来改善串扰的时序无关测试
作者:
ZHONGMIN LIANG
;
rnJUN WANG
;
rnYE SHI
;
rnZHONGBO YU
会议名称:
《16th Asian Test Symposium》
|
2007年
47.
False Path Identification using RTL Information and Its Application to Over-testing Reduction for Delay Faults
机译:
使用RTL信息的错误路径识别及其在减少延迟故障的过度测试中的应用
作者:
Zou xiuping
;
rnChen Shaofeng
;
rnXu Zengrang
;
rnNing Miao
会议名称:
《16th Asian Test Symposium》
|
2007年
48.
Using Programmable On-Product Clock Generation (OPCG) for Delay Test
机译:
使用可编程产品时钟产生(OPCG)进行延迟测试
作者:
Yang Kun
;
rnXu Quan-li
;
rnPeng Shuang-yun
;
rnCao Yan-bo
会议名称:
《16th Asian Test Symposium》
|
2007年
49.
Test Efficiency Analysis and Improvement of SOC Test Platforms
机译:
SOC测试平台的测试效率分析和改进
作者:
Lili Jiang
;
rnQingwen Qi
;
rnZhong Zhang
;
rnJiafu Han
;
rnXifang Cheng
;
rnAn Zhang
会议名称:
《16th Asian Test Symposium》
|
2007年
50.
Monitoring Translent Errors in Sequential Circuits
机译:
监视顺序电路中的瞬态错误
作者:
Jing P.Xu
;
rnFang Li
;
rnBai Zhang
;
rnKai S.Song
;
rnZong M.Wang
会议名称:
《16th Asian Test Symposium》
|
2007年
关键词:
Transient faults;
single event upsets;
on-line error detection;
state transition graph;
finite state machines;
51.
Flip-flop Selection to Maximize TDF Coverage with Partial Enhanced Scan
机译:
触发器选择可通过部分增强型扫描最大程度地提高TDF覆盖率
作者:
Wang Li-zhen
;
rnLi Yun-mei
;
rnLe Cheng-feng
;
rnSun De-yong
会议名称:
《16th Asian Test Symposium》
|
2007年
关键词:
Enhanced scan;
partial;
transition delay test;
Launch-on-Shift;
Launch-on-Capture;
52.
Simulating Open-Via Defects
机译:
模拟开放式缺陷
作者:
Wang J.F
;
rnBao S.T
;
rnChen S.S
;
rnWang Y.F
会议名称:
《16th Asian Test Symposium》
|
2007年
关键词:
Open-via defects;
Fault simulation;
Defect modeling;
53.
On Generating Vectors That Invoke High Circuit Delays-Delay Testing and Dynamic Timing Analysis
机译:
调用高电路延迟的生成矢量-延迟测试和动态时序分析
作者:
Kaiwen Zhong
;
rnXulong Liu
;
rnXie Liang
;
rnSun Cai ge
会议名称:
《16th Asian Test Symposium》
|
2007年
54.
Test Generation for Timing-Critical Transition Faults
机译:
时序关键过渡故障的测试生成
作者:
Youfu Dong
;
rnGuoan Tang
;
rnMingliang Luo
会议名称:
《16th Asian Test Symposium》
|
2007年
55.
Enhanced Broadside Testing for Improved Transition Fault Coverage
机译:
增强的宽边测试,以改善过渡故障覆盖率
作者:
LI Jun
会议名称:
《16th Asian Test Symposium》
|
2007年
56.
An On-Chip Test Clock Control Scheme for Multi-Clock At-Speed Testing
机译:
用于多时钟全速测试的片上测试时钟控制方案
作者:
Liang Zhong
;
rnHongchao Ma
;
rnHonggeng Xu
;
rnYi Ding
会议名称:
《16th Asian Test Symposium》
|
2007年
57.
CAMEL: An Efficient Fault Simulator with Coupling Fault Simulation Enhancement for CAMs
机译:
CAMEL:一种有效的故障模拟器,具有针对CAM的耦合故障模拟增强功能
作者:
Yumei Sun
;
rnYu Fang
;
rnBin Chen
;
rnTohid Ahmed Rana
;
rnJiayuan Lin
;
rnXiaona Li
会议名称:
《16th Asian Test Symposium》
|
2007年
58.
Fast and Low Cost HW Bit Map for Memory Test Based on Residue Polynomial System over GF (2)
机译:
基于GF的残差多项式系统的快速低成本硬件位图,用于存储器测试(2)
作者:
Gao Xiaowei
;
rnFeng Zhongjiang
;
rnGe Jingfeng
会议名称:
《16th Asian Test Symposium》
|
2007年
59.
Programmable Scan-Based Logic Built-In Self Test
机译:
可编程的基于扫描的逻辑内置自检
作者:
WANG Rui
;
rnLIU Zeyang
;
rnCHEN Bin
会议名称:
《16th Asian Test Symposium》
|
2007年
60.
Testing RF Components with Supply Current Signatures
机译:
使用电源电流签名测试RF组件
作者:
CHENG Penggen
;
rnWU Jian
;
rnOUYANG Ping
;
rnHE Ting
会议名称:
《16th Asian Test Symposium》
|
2007年
关键词:
Built-in self-test;
current measurement;
radio frequency testing;
alternate test;
test generation;
61.
Implementation of Defect Oriented Testing and ICCQ testing for industrial mixed-signal IC
机译:
面向工业混合信号IC的面向缺陷的测试和ICCQ测试的实现
作者:
X.L.ZHAO
;
rnJ.LIU
;
rnX.L.YANG
会议名称:
《16th Asian Test Symposium》
|
2007年
62.
SUPERB: Simulator Utilizing Parallel Evaluation of Resistive Bridges
机译:
SUPERB:利用并行评估电阻桥的模拟器
作者:
Yong-zhu Xiong
;
rnMei-ying Zhang
;
rnBin Xia
;
rnZheng-dong Zhang
会议名称:
《16th Asian Test Symposium》
|
2007年
关键词:
Resistive bridging faults;
bridging fault simulation;
PPSFP;
SPPFP;
fault mapping;
63.
Symbolic Path Sensitization Analysis and Applications
机译:
符号路径敏感性分析及应用
作者:
SHENG Hui
;
rnTONG Zhaoqi
;
rnWAN Jianhua
会议名称:
《16th Asian Test Symposium》
|
2007年
关键词:
Sensitization equation;
CNF;
Satisfiabilty;
Fault diagnosis;
Testability analysis;
64.
An HDL-Based Platform for High Level NoC Switch Testing
机译:
基于HDL的高级NoC开关测试平台
作者:
Xiankun Yang
;
rnWeihong Cui
会议名称:
《16th Asian Test Symposium》
|
2007年
65.
Diagnostic Test Generation Targeting Equivalence Classes
机译:
诊断测试生成目标等效类
作者:
Ouyang Chunlie
;
rnSun Jin
;
rnShen Songping
;
rnChen Hongde
会议名称:
《16th Asian Test Symposium》
|
2007年
66.
Test Generation for Crosstalk Glitches Considering Multiple Coupling Effects
机译:
考虑多重耦合效应的串扰毛刺的测试生成
作者:
JIAO Ming-lian
;
rnJIANG Ting-chen
;
rnZONG Yu-yu
会议名称:
《16th Asian Test Symposium》
|
2007年
67.
System Testing using UML Models
机译:
使用UML模型进行系统测试
作者:
Xinghua Le
;
rnZhewen Fan
;
rnYu Fang
;
rnYuping Yu
;
rnYun Zhang
会议名称:
《16th Asian Test Symposium》
|
2007年
关键词:
System testing;
UML;
model-based testing;
68.
EHSAT Modeling from Algorithm Description for RTL Model Checking
机译:
基于算法描述的EHSAT建模以进行RTL模型检查
作者:
C.L.Yang
;
rnZ.F.Wu
;
rnH.H.Zhang
;
rnJ.Cheng
;
rnP Liu
;
rnX.N .Liu
;
rnR.P.Guo
;
rnJ.H.Zhang
会议名称:
《16th Asian Test Symposium》
|
2007年
69.
Test Scheduling for Memory Cores with Built-In Self-Repair
机译:
具有内置自我修复功能的内存核心的测试计划
作者:
H.Assilzadeh
;
rnY.Gao
会议名称:
《16th Asian Test Symposium》
|
2007年
关键词:
SoC;
test scheduling;
memory core;
built-in self-repair;
power consumption;
70.
An Accurate Jitter Estimation Technique for Efficient High Speed I/O Testing
机译:
一种有效的高速I / O测试的准确抖动估计技术
作者:
Weimin Ju
;
rnPing Gao
;
rnJun Wang
;
rnXianfeng Li
;
rnShu Chen
会议名称:
《16th Asian Test Symposium》
|
2007年
71.
An On-Line BIST Technique for Delay Fault Detection in CMOS Circuits
机译:
CMOS电路中延迟故障检测的在线BIST技术
作者:
Fang Huang
;
rnPing Wang
;
rnYujun Qin
;
rnYanqing Li
会议名称:
《16th Asian Test Symposium》
|
2007年
关键词:
delay fault;
online testing;
BIS techniques;
robust delay test;
design for testability;
72.
A High Compression and Short Test Sequence Test Compression Technique to Enhance Compressions of LFSR Reseeding
机译:
高压缩和短测试序列测试压缩技术可增强LFSR播种的压缩
作者:
Lu Yuan
;
rnWu Lianglin
;
rnHua Cui
会议名称:
《16th Asian Test Symposium》
|
2007年
73.
Layout-Aware Multi-Layer Multi-Level Scan Tree Synthesis
机译:
布局感知的多层多级扫描树综合
作者:
Shi Tingting
;
rnWang Ningtao
;
rnLi Chang
;
rnYang Xiuli
;
rnCanute Hyandye
会议名称:
《16th Asian Test Symposium》
|
2007年
74.
A Test and Diagnosis Methodology for RF Transceivers
机译:
射频收发器的测试和诊断方法
作者:
Meng-quan WU
;
rnZhou-long WANG
;
rnAn-ding ZHANG
;
rnYong-qi HUANG
;
rnQing-chun CUI
会议名称:
《16th Asian Test Symposium》
|
2007年
关键词:
RF Test;
RF design-for-testability;
mixer;
low noise amplifier;
transceiver.;
75.
Fourier Spectrum-Based Signature Test: A Genetic CAD Toolbox for Reliable RF Testing Using Low-Performance Test Resources
机译:
基于傅立叶频谱的签名测试:使用低性能测试资源进行可靠的RF测试的遗传CAD工具箱
作者:
La Qi
;
rnWenjiang Huang
;
rnJiaogen Zhou
;
rnChunjiang Zhao
会议名称:
《16th Asian Test Symposium》
|
2007年
76.
A BIST Technique for RF Voltage-Controlled Oscillators
机译:
射频压控振荡器的BIST技术
作者:
F.Wang
;
rnG.Z.Peng
;
rnJ.G.Jiang
会议名称:
《16th Asian Test Symposium》
|
2007年
77.
Test Compression/Decompression Based on JPEG VLC Algorithm
机译:
基于JPEG VLC算法的测试压缩/解压缩
作者:
F.Meng
;
rnJ.Zhang
;
rnQ.Q.Shi
;
rnM.Liu
会议名称:
《16th Asian Test Symposium》
|
2007年
关键词:
Test compression;
multimedia core;
variable length coding;
JPEG;
test generation;
test transformation;
78.
Resistive Bridging Faults DFT with Adaptive Power Management Awareness
机译:
具有自适应电源管理意识的电阻式桥接故障DFT
作者:
Yong Xu
;
rnYing Zhang
;
rnDong Zhang
;
rnJitang Liu
会议名称:
《16th Asian Test Symposium》
|
2007年
关键词:
Multi-Vdd Test Generation;
Resistive Bridging Fault;
Test Point Insertion;
79.
Clues for Modeling and Diagnosing Open Faults with Considering Adjacent Lines
机译:
考虑相邻线路的建模和诊断开路故障的线索
作者:
FANG Shifeng
;
rnPEI Huan
;
rnLIU Zhihui
;
rnDAI Wei
;
rnLIU Yongqiang
;
rnZHAO Qiudong
;
rnFENG Lin
会议名称:
《16th Asian Test Symposium》
|
2007年
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