自动光学检测

摘要： 用机器视觉代替人眼能够进行缺陷检测;用机器人代替人力进行分拣,可保证分拣的效率、稳定性和可重复性。文中结合二者优势,提出一种机器视觉的印刷电路板检测和分拣系统,以达到实时检测和快速分拣的目的。该系统利用智能相机配合光源得到检测对象的图像信息。针对印刷电路板的缺件、漏件、排针弯曲、焊脚不规整等缺陷,分别采用不同的检测算法和图像预处理措施,编写检测程序来快速识别检测对象是否存在缺陷,并将缺陷信息和印刷电路板坐标提供给机器人以实现印刷电路板的分拣,保证缺陷检测的准确性。另外,在图像定位上采用软件配准以节约人力和时间。实验结果表明,所提系统可以满足印刷电路板的实时检测要求,达到较好的检测效果。

摘要： 利用AOI(Automated Optical Inspection)设备对PCB(Printed Circuit Board)板的缺陷进行检测时,获取质量良好的图片是至关重要的.该系统采用的图像采集系统包含线扫相机、卤素灯、步进电机、运动控制板卡、图像采集板卡等设备.为了保证该系统在不同解析度下都可以拍摄到高质量的图片,相机、镜头和光源的位置计算需要十分精准.实验证明了该系统的可行性和实用性.

摘要： 在多芯片组件组装过程中,引线键合的自动光学检测存在背景图像复杂、跨尺度检测难度大和压点方向随机等问题.进行了光源参数和图像处理算法优化,通过键合球、引线和键合压点等三部分的分段检测,实现了自动光学检测技术在引线键合工艺中的应用.通过某型多芯片组件组装过程的检测得到数据,统计结果表明:与人工目检相比,检测效率提升了240％(离线生产),漏检率由200×10-6降至5×10-6以下,可有效降低目检操作者的劳动强度,可统计分析缺陷类型,为引线键合的工艺改进、质量提升和数字化生产提供了基础数据.

摘要： 提出了一种半导体制冷器件晶粒相邻面同时准共焦成像检测的光学装置.选择晶粒天面成像光路中直角反射转像棱镜到玻璃载物转盘之间的距离调节来实现双面准共焦成像.设计了晶粒相邻面缺陷同时准共焦成像检测的光学系统,完成了晶粒相邻面缺陷同时准共焦成像检测的实验验证.结果表明,该检测装置可以实现晶粒相邻面缺陷同时成像检测的功能,满足晶粒相邻面缺陷成像检测的性能要求.具有提高检测速度、简化结构且提高系统可靠性等优点,可在晶粒缺陷智能检测筛选系统中获得应用.

摘要： 以3～8寸手机液晶模组缺陷检测设备为应用对象,能够兼容高解析度的液晶模组;以机器视觉为基础,图像处理算法为核心,并集成视觉定位系统,能够实现模组各种类型缺陷的全自动化检测.设计并实现PLC运动控制方案,利用二维电动平台实现液晶模组的全自动化检测方式,实现自动出入料、自动对接、自动点灯和视觉自动检测.利用高分辨率相机拍摄点亮不同颜色的多幅图像,并采用三菱FX3G系列PLC,编程实现对液晶显示屏缺陷的检测.通过软、硬件设计,对设备传感器采集到的图像数据进行运算处理,以及对设备旋转平台的电机速度、位移的控制,实现四工位液晶模组表面缺陷检测工艺流程.测试结果表明,液晶屏幕缺陷自动检测PLC控制系统符合设计要求,降低生产成本和退货率,简化生产线流程.

摘要： 为提高AOI过程中图像采集的效率,将AOI路径规划问题分解为检测窗划分和CCD移动路径规划问题相结合的组合优化问题.首先使用改进的迭代自组织聚类算法划分检测窗,然后使用粒子群与蚁群混合算法优化CCD移动路径,充分发挥粒子群算法前期快速的全局收敛性能和蚁群算法的局部寻优能力,同时考虑了检测窗的可移动范围从而缩短了路径长度.最后通过Matlab仿真实验证明,与标准蚁群算法相比本文的AOI路径规划方案能够得到更短的规划路径和更快的收敛速度,提高了 AOI设备的工作效率.

摘要： 传统的芯片生产过程中,芯片表面缺陷会影响后续制程工艺的良率,因此产线中会使用自动光学检测设备对芯片表面进行缺陷检测和返工处理,从而实现良率管控.由于芯片表面缺陷的形貌特征不一,常采用明场照明和暗场照明的方式进行组合检测.本文通过对检测流程的产率研究,改进现有的扫描检测流程,以期提升产率.经过客户端的试验验证,经作者改进之后的检测流程方案可以符合客户产率提升的实际需求,并且帮助公司提升了产品设备竞争力.

摘要： 针对待测晶粒大的情况,为解决晶粒双面检测时双面之间产生光程差导致的的成像清晰度问题,提出了一种基于偏振分光成像法的半导体制冷器件晶粒相邻双面同时成像缺陷检测的装置.利用偏振分光器与直角转像棱镜对采用偏振分束器与偏振相机的晶粒天面和侧面同时等光程共焦成像检测装置进行了光学设计,完成了晶粒相邻双面同时等光程偏振成像缺陷检测的实验验证.结果表明,该偏振分光成像检测技术可以实现晶粒相邻面的同时缺陷检测,并能很好地满足相邻面等光程成像缺陷检测的性能要求.当晶粒相邻面等光程共焦时,检测分辨率可达到110 lp/mm以上,而当晶粒相邻面离焦(准共焦)仅±0.20 mm时,分辨率则降至45 lp/mm以下.本检测装置具有双面成像清晰度好、成像光路共焦调整方便、检测装置结构简单可靠,以及提高的缺陷检测性能等优点.

摘要： 本文简述了利用自动光学检测技术实现导电胶胶量控制的基本原理,硬件配置和检测算法,针对检测过程产生的导电胶胶量波动大,工艺状态不稳定不可控的问题进行了统计过程控制处理,实现了导电胶胶量离散程度的减少,提高了该工序过程能力,也实现了自动光学检测设备对于点导电胶工艺的优化指导。

摘要： 在主动式自动光学检测系统中,获取高质量的图像具有重要意义.除相机外,光源热稳定性对获取的图像质量也会产生重要影响.为了确保光学检测系统光源的热稳定性以获取高质量的图像,论文提出了一种散热型LED阵列结构 光源设计方法.首先,基于单个LED热阻特性建立单个LED的热阻模型.其次,以两个相邻的LED为例,分析同色光LED在单一阵列中的结温特性,并建立LED阵列结构光源的结温模型.最后,基于建立的结温模型,提出散热型LED阵列结构光源设计方法.特别地,论文提出了将散热型结构光源设计问题分解为两个相对简单子问题的方法,进而简化结构光源设计过程.实验结果表明,该设计方法的仿真结温偏差在?0.33％～0.33％之间,实验结温偏差为2.28％,验证了该方法的有效性.

摘要： 自动光学检测(AOI)已成为PCB检测的主要方式,线路板微小缺陷检测对于AOI系统是严峻的挑战.研究线路板微小缺陷的成像问题.运用成像理论,研究了欠采样条件下微小缺陷的成像特点,分析了缺陷尺寸与像素分辨率的比例及采样相位对成像的影响,并进行了实验验证.该研究对PCB AOI系统的设计和检测性能分析有重要意义。

摘要： 自动光学检测(A0I)越来越多地应用于PCB的质量检测.文章分析了AOI系统中的关键环节,包括:设计文件解码、光机平台、光源与光电成像、检测算法.讨论了AOI技术的发展趋势.一种基于图像亚像素检测和智能形状分析的AOI系统、给出了系统设计方案和关健处理流程,该系统可以满足高精密度PCB板的实时检测要求.达到较好的检测效果.

摘要： @@当前PCB产品向着超薄型、小元件、高密度、细间距方向发展，传统的人工目检，已不能完全适应当今制造技术的进步。越来越多的检测需要借助各种设备，在AOI（自动光学检测）出现以前，ICT为主要的PCBA测试设备，但随着元件小型化，PCB设计的高集成度及高密度化，ICT已不能完全适应PCBA行业的要求。

摘要： 随着表面贴装技术(SMT)应用在生产中的印制电路板向线路更精细,元器件体积更小,安装密度更大,产品的集成度更高等方向发展,为了更好的管控产品的合格率,对其进行实时准确的质量检测显得尤为重要.本文针对AOI的基本概念进行阐述,对比AOI技术与传统人工检测技术的优缺点及工作效率,充分说明AOI技术应用于SMT生产中的重要性.

摘要： 随着表面贴装技术(SMT)应用在生产中的印制电路板向线路更精细,元器件体积更小,安装密度更大,产品的集成度更高等方向发展,为了更好的管控产品的合格率,对其进行实时准确的质量检测显得尤为重要.本文针对AOI的基本概念进行阐述,对比AOI技术与传统人工检测技术的优缺点及工作效率,充分说明AOI技术应用于SMT生产中的重要性.

摘要： 随着表面贴装技术(SMT)应用在生产中的印制电路板向线路更精细,元器件体积更小,安装密度更大,产品的集成度更高等方向发展,为了更好的管控产品的合格率,对其进行实时准确的质量检测显得尤为重要.本文针对AOI的基本概念进行阐述,对比AOI技术与传统人工检测技术的优缺点及工作效率,充分说明AOI技术应用于SMT生产中的重要性.

摘要： 随着表面贴装技术(SMT)应用在生产中的印制电路板向线路更精细,元器件体积更小,安装密度更大,产品的集成度更高等方向发展,为了更好的管控产品的合格率,对其进行实时准确的质量检测显得尤为重要.本文针对AOI的基本概念进行阐述,对比AOI技术与传统人工检测技术的优缺点及工作效率,充分说明AOI技术应用于SMT生产中的重要性.

摘要： 基于液晶玻璃基板夹杂物的核心和表面变形、各类缺陷的分层和凸起Top面高度及Top面低对比度微划伤检出等关键检测技术.研究分析AOI检测设备,重点介绍缺陷建库创建方法、Flaw图像特征含义及缺陷分类基础技术.自动在线检验,产品缺陷的分类准确度和纯净度达到92％以上,产品质量等级判定准确率达到98％以上.该技术为液晶玻璃基板生产线工艺技术管理提供指导和帮助,保证液晶玻璃基板缺陷分类准确可靠和质量过程控制完整高效.

摘要： 基于液晶玻璃基板夹杂物的核心和表面变形、各类缺陷的分层和凸起Top面高度及Top面低对比度微划伤检出等关键检测技术.研究分析AOI检测设备,重点介绍缺陷建库创建方法、Flaw图像特征含义及缺陷分类基础技术.自动在线检验,产品缺陷的分类准确度和纯净度达到92％以上,产品质量等级判定准确率达到98％以上.该技术为液晶玻璃基板生产线工艺技术管理提供指导和帮助,保证液晶玻璃基板缺陷分类准确可靠和质量过程控制完整高效.

摘要： 基于液晶玻璃基板夹杂物的核心和表面变形、各类缺陷的分层和凸起Top面高度及Top面低对比度微划伤检出等关键检测技术.研究分析AOI检测设备,重点介绍缺陷建库创建方法、Flaw图像特征含义及缺陷分类基础技术.自动在线检验,产品缺陷的分类准确度和纯净度达到92％以上,产品质量等级判定准确率达到98％以上.该技术为液晶玻璃基板生产线工艺技术管理提供指导和帮助,保证液晶玻璃基板缺陷分类准确可靠和质量过程控制完整高效.

摘要： 本发明公开了一种自动光学检测方法，包括以下步骤。首先，撷取光学膜片的膜片影像。然后，以特征分类技术，判断膜片影像的一缺陷影像所属的缺陷类别，其中所属缺陷类别包含至少一缺陷型。然后，以机器学习分类技术，判断缺陷影像所属的缺陷型。

摘要： 本发明涉及一种自动光学检测方法和光学自动检测设备。一种自动光学检测方法，包括以下步骤：色光投射步骤，采用具有三原色光的灯光均匀的投射在待检的对象上，形成具有不同色彩的图像；获取所述图像不同区域所对应的灰阶信息，然后生成自动光学检查标准图像，将所述自动光学检查标准图像跟预存的基准图像进行对比检测。本发明由于只需要处理图像的灰阶信息，降低了图像处理单元及统计分析单元的数据量及处理难度，有利于数据采集可靠性、精度、重复性及速度的提高，本发明降低了检测设备的要求，也有利于降低检测设备的投入成本。

摘要： 本发明公开了二级自动光学检测光源和自动光学检测系统；二级自动光学检测光源包括用于驱动控制器电路工作的串口通信电路、用于控制LED驱动电路的电路块的电流的控制器电路、LED驱动电路，LED驱动电路包括16块电路块，16块电路块中的8块电路块构成内环光源，内环光源划分为8个亮度控制区域，每块电路块对应1个亮度控制区域；16块电路块中的另外8块电路块构成外环光源，外环光源划分为8个亮度控制区域，每块电路块对应1个亮度控制区域；本技术方案的二级自动光学检测光源可以通过控制16个亮度控制区域的亮度突出待测产品的缺陷部分，从而提高检测精确度，提高检测效率。

摘要： 本发明提供一种自动光学检测方法、系统及记录媒体。此方法经由光学镜头获取待测物的原始图像，其中原始图像包括多个第一图像；对原始图像执行边缘检测，以获得具有边缘图案的边缘图像，其中边缘图像包括多个第二图像；计算第二图像中像素值的最大值、最小值及平均值至少其中之一；根据单位面积分割边缘图像为多个图像区块，并根据图像区块中包括的多个第二图像对应的最大值、最小值及平均值至少其中之一计算多个特征值；以及根据特征值与待测物数据训练对应待测物缺陷的回归模型以获得最佳回归模型。

摘要： 本发明公开了一种自动光学检测方法，包括以下步骤。首先，撷取光学膜片的膜片影像。然后，以特征分类技术，判断膜片影像的一缺陷影像所属的缺陷类别，其中所属缺陷类别包含至少一缺陷型。然后，以机器学习分类技术，判断缺陷影像所属的缺陷型。

摘要： 本发明提供一种自动光学检测方法及实施该方法的自动光学检测系统；在该自动光学检测方法中，首先将待测物输送至检测定位点，接着选择使用第一影像撷取器或第二影像撷取器撷取待测物的影像，当是使用第一影像撷取器时，需要配合操作影像分析单元对待测物的影像进行分析处理并判读是否存有不良点，当是使用第二影像撷取器时，通过第二影像撷取器本身所内建的影像处理功能，便能够对待测物的影像进行分析处理并判读是否存有不良点，最后使用计算机取得经过分析处理后的影像数据和判读结果并对待测物进行分流管控，且将所取得的判读结果上传至生产现场管控系统，由此达到提高效率、维持良率以及降低维护成本的效果。

摘要： 本发明是一种自动光学检测系统以及自动光学检测方法。自动光学检测系统包含一影像撷取模块、一数据处理单元以及一比较单元。影像撷取模块用以于一单位时间内撷取一待测物的多个不同景深的测量值。数据处理单元接收影像撷取模块所撷取的多个测量值，运算后输出一比较值。比较单元与数据处理单元电性连接，用以将比较值与一参考值比较以判断待测物是否存在缺陷。上述系统可克服待测物于检测过程中偏离焦点而无法撷取到清晰影像的问题。

摘要： 本发明公开了二级自动光学检测光源和自动光学检测系统；二级自动光学检测光源包括用于驱动控制器电路工作的串口通信电路、用于控制LED驱动电路的电路块的电流的控制器电路、LED驱动电路，LED驱动电路包括16块电路块，16块电路块中的8块电路块构成内环光源，内环光源划分为8个亮度控制区域，每块电路块对应1个亮度控制区域；16块电路块中的另外8块电路块构成外环光源，外环光源划分为8个亮度控制区域，每块电路块对应1个亮度控制区域；本技术方案的二级自动光学检测光源可以通过控制16个亮度控制区域的亮度突出待测产品的缺陷部分，从而提高检测精确度，提高检测效率。

摘要： 本发明涉及一种自动光学检测方法和光学自动检测设备。一种自动光学检测方法，包括以下步骤：色光投射步骤，采用具有三原色光的灯光均匀的投射在待检的对象上，形成具有不同色彩的图像；获取所述图像不同区域所对应的灰阶信息，然后生成自动光学检查标准图像，将所述自动光学检查标准图像跟预存的基准图像进行对比检测。本发明由于只需要处理图像的灰阶信息，降低了图像处理单元及统计分析单元的数据量及处理难度，有利于数据采集可靠性、精度、重复性及速度的提高，本发明降低了检测设备的要求，也有利于降低检测设备的投入成本。

摘要： 本实用新型提供一种自动光学检测机中真空泵的控制机构，其包括切换单元，所述切换单元用于使真空泵在自动光学检测机的工作模式和待机模式之间进行运转状态的切换，该控制机构中还包括有延时断电单元，所述延时断电单元中预设有延时时间，所述延时断电单元用于在真空泵处于待机模式下时间达到所述延时时间的情况下，通知所述切换单元将所述真空泵切换为停机状态。该控制机构具有能源消耗小、使用寿命长、使用安全和有效性高的优点。