机译:基于深反应离子刻蚀的硅高级刻蚀,用于硅高纵横比微结构和三维微纳结构
ESIEE, Ecole Superieure d'Ingenieurs en Electrotechnique et Electronique, Equipe Systemes de Communication el Microsystemes, ESYCOM—EA 2552, 2 Bd Blaise Pascal, 93162 Noisy-le-Grand, France;
micromachining; DRIE; HARMS; sub-micron; 3D; silicon;
机译:深度反应离子蚀刻参数对具有高纵横比极深硅蚀刻工艺蚀刻速率和表面形态的影响:
机译:由于依赖于纵横比的传输和微负载效应,在硅的深反应离子刻蚀中可实现的最大纵横比
机译:使用时分多路反应离子刻蚀技术对硅进行高深宽比的微加工和纳米加工
机译:基于深度反应离子刻蚀(DRIE)的先进硅刻蚀技术,用于硅损伤以及3D微观和纳米结构
机译:在微机电系统的高密度等离子体源中干法蚀刻高纵横比的硅微结构。
机译:通过深反应离子蚀刻制造高纵横比硅光栅
机译:使用深反应离子蚀刻制备高纵横比硅纳米粒子和纳米能
机译:采用时间复用蚀刻 - 钝化工艺的高纵横比siC微结构深反应离子刻蚀(DRIE)