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Symposium on Optical Microstructural Characterization of Semiconductors held November 29-30, 1999, Boston, Massachusetts, U.S.A.
Symposium on Optical Microstructural Characterization of Semiconductors held November 29-30, 1999, Boston, Massachusetts, U.S.A.
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1.
STM-light emission from metal deposited semiconductor surfaces
机译:
金属沉积的半导体表面的STM发光
作者:
N.Yamamoto
;
S.Kagami
;
H.Minoda
会议名称:
《Symposium on Optical Microstructural Characterization of Semiconductors held November 29-30, 1999, Boston, Massachusetts, U.S.A.》
|
1999年
2.
Studies of photoreflectance in Cd_(1-x)Mn_xTe/Cd_(1-y)Mn_yTe superlattices
机译:
Cd_(1-x)Mn_xTe / Cd_(1-y)Mn_yTe超晶格中光反射的研究
作者:
Chenjia Chen
;
Xuezhong Wang
;
Haitao Li
;
Xiaogan Liang
;
Guangyu Chai
;
Zheng Ning
;
Xun Wang
会议名称:
《Symposium on Optical Microstructural Characterization of Semiconductors held November 29-30, 1999, Boston, Massachusetts, U.S.A.》
|
1999年
3.
Study of he radiative and non-radiative recombination processes at dislocations in silicon by photoluminescence and lbic measurements
机译:
通过光致发光和lbic测量研究位错在硅中的辐射和非辐射复合过程
作者:
S.Pizzini
;
S.Binetti
;
MAcciarri
;
M.Casati
会议名称:
《Symposium on Optical Microstructural Characterization of Semiconductors held November 29-30, 1999, Boston, Massachusetts, U.S.A.》
|
1999年
4.
Quantum confinement of above-band-gap transitions in Ge quantum dots
机译:
Ge量子点中带隙跃迁的量子约束
作者:
C.W.Teng
;
J.F.Muth
;
R.M.Kolbas
;
K.M.Hassan
;
A.K.Sharma
;
A.Kvit
;
J.Narayan
会议名称:
《Symposium on Optical Microstructural Characterization of Semiconductors held November 29-30, 1999, Boston, Massachusetts, U.S.A.》
|
1999年
5.
Optical characterization of ion implanted sic
机译:
离子注入SiC的光学表征
作者:
E.K.Williams
;
D.Ila
;
D.B.Poker
;
D.K.Hensley
会议名称:
《Symposium on Optical Microstructural Characterization of Semiconductors held November 29-30, 1999, Boston, Massachusetts, U.S.A.》
|
1999年
6.
Optical emission related to holes confined in p-type delta -doped layers in GaAs
机译:
与限制在GaAs的p型δ掺杂层中的空穴有关的光发射
作者:
Q.X.Zhao
;
M.Willander
;
P.O.Hltz
;
W.Lu
;
H.F.Dou
;
S.C.Shen
;
G.Li
;
C.Jagadish
会议名称:
《Symposium on Optical Microstructural Characterization of Semiconductors held November 29-30, 1999, Boston, Massachusetts, U.S.A.》
|
1999年
7.
Cathodoluminescence from In_xGa_(1-x) layers grown on GaAs using a transmission electron microscope
机译:
使用透射电子显微镜在GaAs上生长的In_xGa_(1-x)层的阴极发光
作者:
N.Yamamoto
;
T.Mita
;
S.heun
;
A.Franciosi
;
J.-M.Bonard
会议名称:
《Symposium on Optical Microstructural Characterization of Semiconductors held November 29-30, 1999, Boston, Massachusetts, U.S.A.》
|
1999年
8.
Micro-raman characterization of unusual defect structure in arsenic-implanted silicon
机译:
砷注入硅中异常缺陷结构的显微拉曼表征
作者:
David D.Tuschel
;
James P.Lavine
会议名称:
《Symposium on Optical Microstructural Characterization of Semiconductors held November 29-30, 1999, Boston, Massachusetts, U.S.A.》
|
1999年
9.
Optical absorption and luminescence study o f the effect of thermal treatments on the porous slicon surface
机译:
热处理对多孔硅表面的影响的光吸收和发光研究
作者:
R.Plugaru
;
G.Craciun
;
M.Bercu
;
J.Rams
;
J.Piqueras
会议名称:
《Symposium on Optical Microstructural Characterization of Semiconductors held November 29-30, 1999, Boston, Massachusetts, U.S.A.》
|
1999年
10.
Photoemitters based on glass-ito structures
机译:
基于玻璃ITO结构的光电发射体
作者:
J.Olesik
会议名称:
《Symposium on Optical Microstructural Characterization of Semiconductors held November 29-30, 1999, Boston, Massachusetts, U.S.A.》
|
1999年
11.
Photoluminescence and photoluminescence excitation mechanisms for porous silicon and silicon oxynitride
机译:
多孔硅和氮氧化硅的光致发光和光致发光激发机理
作者:
Xingsheng Liu
;
Jesus Noel Calata
;
Houyun Liang
;
Wangzhou Shi
;
Xuanyin Lin
;
Kuixun Lin
;
G.G.Qin
会议名称:
《Symposium on Optical Microstructural Characterization of Semiconductors held November 29-30, 1999, Boston, Massachusetts, U.S.A.》
|
1999年
12.
Microstructural characterization of antimonide based III-V compounds and their effect on electro-optical properties of substrate materials and devices
机译:
基于锑的III-V化合物的微结构表征及其对基材和器件的电光性能的影响
作者:
P.S.Dutta
;
R.J.Gutmann
;
G.W.Charache
;
C.A.Wang
会议名称:
《Symposium on Optical Microstructural Characterization of Semiconductors held November 29-30, 1999, Boston, Massachusetts, U.S.A.》
|
1999年
13.
Investigation of deep levels in GaP liquid phase epitaxial layers on substrates with vapor pressure heat treatement
机译:
用蒸气压热处理研究衬底上GaP液相外延层的深能级
作者:
T.J.Yu
;
K.Suto
;
J.Nishizawa
会议名称:
《Symposium on Optical Microstructural Characterization of Semiconductors held November 29-30, 1999, Boston, Massachusetts, U.S.A.》
|
1999年
14.
Homogeneity of thermally-annealed lightly Fe-doped Si InP
机译:
热退火轻掺杂Fe的Si InP的均质性
作者:
M.Avella
;
J.Jimenez
;
R.Fornari
;
E.De Lapuente
会议名称:
《Symposium on Optical Microstructural Characterization of Semiconductors held November 29-30, 1999, Boston, Massachusetts, U.S.A.》
|
1999年
15.
Energy behavior with magnetic field of negatively charged magneto-excitons in quantum wells and heteropjunctions
机译:
带负电荷的磁激子在量子阱和异质结中的磁场能量行为
作者:
F.M.Munteanu
;
Y.Kim
;
C.H.Perry
;
D.G.Rickel
;
J.A.Simmons
;
J.L.Reno
会议名称:
《Symposium on Optical Microstructural Characterization of Semiconductors held November 29-30, 1999, Boston, Massachusetts, U.S.A.》
|
1999年
16.
Depth-resolved microspectroscopy of porous silicon multilayers
机译:
多孔硅多层膜的深度分辨显微光谱
作者:
S.Manotas
;
F.Agullor-Rueda
;
J.D.Moreno
;
R.J.Martin-Palma
;
R.Guerrero-Lemus
;
J.M.Artinez-Duart
会议名称:
《Symposium on Optical Microstructural Characterization of Semiconductors held November 29-30, 1999, Boston, Massachusetts, U.S.A.》
|
1999年
17.
Confocal micro-raman characterization of SiC epilayers
机译:
SiC外延层的共聚焦显微拉曼表征
作者:
Ran Liu
会议名称:
《Symposium on Optical Microstructural Characterization of Semiconductors held November 29-30, 1999, Boston, Massachusetts, U.S.A.》
|
1999年
18.
Characterization of Si,SiGe and soi structures using photoluminscence
机译:
利用光致发光表征Si,SiGe和soi结构
作者:
V.Higgs
会议名称:
《Symposium on Optical Microstructural Characterization of Semiconductors held November 29-30, 1999, Boston, Massachusetts, U.S.A.》
|
1999年
19.
Viewport influence on optical pyrometry and deposition process in mocvd vertical rotating discreactors
机译:
视口对MOCVD垂直旋转不连续反应器中光学高温和沉积过程的影响
作者:
Anton Prokopenko
;
alexander Gurary
;
Vadim Boguslavskiy
;
Jeffrey Ramer
;
Matthew Schurman
会议名称:
《Symposium on Optical Microstructural Characterization of Semiconductors held November 29-30, 1999, Boston, Massachusetts, U.S.A.》
|
1999年
20.
Spectrally resolved cathodoluminescence determination of dopant diffusion in InP/InGaAsP based multti quantum well fabryy-perot lasers
机译:
基于InP / InGaAsP的多量子阱Fabry-perot激光器的光谱解析阴极发光测定掺杂剂扩散
作者:
C.Zanotti-Fregonara
;
C.Ferrari
;
L.Lazzarini
;
G.Salviati
;
M.Meliga
;
D.Bertone
;
R.Y.Fang
;
G.Morello
;
R.Paoleti
会议名称:
《Symposium on Optical Microstructural Characterization of Semiconductors held November 29-30, 1999, Boston, Massachusetts, U.S.A.》
|
1999年
21.
Optical and microstructural characterization of nanocrystalline silicon superlattices
机译:
纳米晶硅超晶格的光学和微观结构表征
作者:
L.Tsybeskov
;
G.F.SGrom
;
R.Krishan
;
P.M.Fauchet
;
J.P.McCaffrey
;
J.-M.Bqribeau
;
G.I.Sproule
;
D.J.Lockwood
;
V.Timoshenko
;
J.Diener
;
H.Heckler
;
D.Kovalev
;
F.Koch
;
T.N.Blanton
会议名称:
《Symposium on Optical Microstructural Characterization of Semiconductors held November 29-30, 1999, Boston, Massachusetts, U.S.A.》
|
1999年
22.
Light-excitation-based spectroscopy of electronic deffects in novel materials
机译:
基于光激发的新型材料中电子缺陷的光谱
作者:
A.Castaldini
;
A.Cavallini
;
L.Polenta
会议名称:
《Symposium on Optical Microstructural Characterization of Semiconductors held November 29-30, 1999, Boston, Massachusetts, U.S.A.》
|
1999年
23.
Study of raman scattering on InP/InGaAs/InP HEMTs
机译:
InP / InGaAs / InP HEMT上的拉曼散射研究
作者:
K.Radhakrishan
;
T.H.K.Patrick
;
H.q.Zheng
;
S.F.Yoon
会议名称:
《Symposium on Optical Microstructural Characterization of Semiconductors held November 29-30, 1999, Boston, Massachusetts, U.S.A.》
|
1999年
24.
Study of GaSb junction devices by cathodoluminescence and s canning tunneling spectroscopy
机译:
GaSb结器件的阴极发光和罐装隧道光谱研究
作者:
P.Hidalgo
;
B.Mendez
;
J.Piqueras
;
P.S.Dutta
会议名称:
《Symposium on Optical Microstructural Characterization of Semiconductors held November 29-30, 1999, Boston, Massachusetts, U.S.A.》
|
1999年
25.
Scanning tunneling microscope-induced luminescence studies of deffects in GaN layers and heterostructures
机译:
扫描隧道显微镜诱导的GaN层和异质结构缺陷的发光研究
作者:
S.Evoy
;
C.K.harnett
;
S.keller
;
U.K.Mishra
;
S.P.DenBaars
;
H.G.Craigead
会议名称:
《Symposium on Optical Microstructural Characterization of Semiconductors held November 29-30, 1999, Boston, Massachusetts, U.S.A.》
|
1999年
26.
Optical properties of pseudomorphic Sn_xGe_(1-x) alloys
机译:
伪Sn_xGe_(1-x)合金的光学性质
作者:
Regina Ragan
;
Harry A.Atwater
会议名称:
《Symposium on Optical Microstructural Characterization of Semiconductors held November 29-30, 1999, Boston, Massachusetts, U.S.A.》
|
1999年
27.
Optical properties and deffect structure of movpe InGaN films
机译:
MoGaN InGaN薄膜的光学性质和缺陷结构
作者:
A.Cremades
;
M.Albrecht
;
J.M.Ulloa
;
J.Piqueras
;
H.P.Stunk
;
D.Hanser
;
R.F.Davis
会议名称:
《Symposium on Optical Microstructural Characterization of Semiconductors held November 29-30, 1999, Boston, Massachusetts, U.S.A.》
|
1999年
28.
Optically induced condensation of impurity excitations in transparent solids
机译:
光诱导的透明固体中杂质激发的冷凝
作者:
E.A.Manykin
;
M.I.Ojovan
;
P.P.Poluektov
会议名称:
《Symposium on Optical Microstructural Characterization of Semiconductors held November 29-30, 1999, Boston, Massachusetts, U.S.A.》
|
1999年
29.
Optical characterization of individual nanostructures by STM light emission
机译:
通过STM发光对单个纳米结构进行光学表征
作者:
S.Ushioda
会议名称:
《Symposium on Optical Microstructural Characterization of Semiconductors held November 29-30, 1999, Boston, Massachusetts, U.S.A.》
|
1999年
30.
Analysis of the crystallization kinfetics and microstructure of polycrystalline SiGe films by optical techniques
机译:
光学技术分析多晶硅锗薄膜的结晶动力学和微观结构
作者:
J.Olivares
;
P.martin
;
A.Rodriguez
;
J.Sangrador
;
O.Martinez
;
J.Jimenez
;
T.Rodriguez
会议名称:
《Symposium on Optical Microstructural Characterization of Semiconductors held November 29-30, 1999, Boston, Massachusetts, U.S.A.》
|
1999年
31.
Micro-raman characterization of arsenic-implanted silicon: interpretation of the spectra
机译:
砷注入硅的微拉曼表征:光谱的解释
作者:
James P.Lavine
;
David D.Tuschel
会议名称:
《Symposium on Optical Microstructural Characterization of Semiconductors held November 29-30, 1999, Boston, Massachusetts, U.S.A.》
|
1999年
32.
Optical intergated waveguides characterization by scanning near field optical microscope
机译:
通过扫描近场光学显微镜表征光学集成波导
作者:
X.Borrise
;
N.Brarniol
;
F.Perez-Murano
;
G.Abadal
;
X.Aymerich
;
D.Jimenez
会议名称:
《Symposium on Optical Microstructural Characterization of Semiconductors held November 29-30, 1999, Boston, Massachusetts, U.S.A.》
|
1999年
33.
Optical properties of Si nanowires on a Si{111} surface
机译:
Si {111}表面上的Si纳米线的光学特性
作者:
N.Ozaki
;
Y.Ohno
;
S.Takeda
会议名称:
《Symposium on Optical Microstructural Characterization of Semiconductors held November 29-30, 1999, Boston, Massachusetts, U.S.A.》
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1999年
34.
Photo-indouced current spectroscopy in undoped CVD diamond films
机译:
未掺杂的CVD金刚石膜中的光倍电流谱
作者:
E.Borchi
;
M.Bruzzi
;
L.Lombardi
;
D.Menichelli
;
S.Miglio
;
S.Pirollo
;
S.Sciortino
;
D.Serafini
会议名称:
《Symposium on Optical Microstructural Characterization of Semiconductors held November 29-30, 1999, Boston, Massachusetts, U.S.A.》
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1999年
35.
Photoreflectance near-field scanning optical microscopy
机译:
光反射近场扫描光学显微镜
作者:
Charles Plaulson
;
Brian Hamwkins
;
Jingxi Sun
;
Arthur B.Ellis
;
Leon Mccaughan
;
TFKuech
会议名称:
《Symposium on Optical Microstructural Characterization of Semiconductors held November 29-30, 1999, Boston, Massachusetts, U.S.A.》
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1999年
36.
A study of the origin of band-a emission in homoepitaxial diamond thin films
机译:
同质外延金刚石薄膜中能带发射的起源研究
作者:
Daisuke Takeuchi
;
Hideyuki Watanabe
;
Sadanori Yamanaka
;
Hideyo Okushi
;
Koji Kajimura
;
Hidetakasawada
;
Hideki ichinose
;
TSakashi Sekiguchi
会议名称:
《Symposium on Optical Microstructural Characterization of Semiconductors held November 29-30, 1999, Boston, Massachusetts, U.S.A.》
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1999年
37.
Nondestructive analysis of current gain of InP/InGaAs heterojuncetion bipolar transistor structurres using photoreflectance spectroscopy
机译:
使用光反射光谱法对InP / InGaAs异质结双极晶体管结构的电流增益进行无损分析
作者:
Hiroki Sugiyama
;
Noriyuki Watanabe
;
Kazuo watanabe
;
Takashi Kobayashi
;
Kazumi wada
会议名称:
《Symposium on Optical Microstructural Characterization of Semiconductors held November 29-30, 1999, Boston, Massachusetts, U.S.A.》
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1999年
38.
Low temperature photoluminescence and photonduced current spectroscopy on CdZnTe Grown by high-pressure bridgman technique
机译:
高压布里奇曼技术生长的CdZnTe的低温光致发光和光诱导电流光谱
作者:
A.Zerrai
;
K.Cherkaoui
;
S.Mergui
;
A.Zumbiehl
;
M.Hage-Ali
;
G.Marrakchi
;
G.Bremond
会议名称:
《Symposium on Optical Microstructural Characterization of Semiconductors held November 29-30, 1999, Boston, Massachusetts, U.S.A.》
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1999年
39.
Micro-raman study of charge carrier distribution and cathodoluminescence microanalysis of porous GaP membranes
机译:
多孔GaP膜的电荷载流子分布和阴极发光微分析的显微拉曼研究
作者:
I.M.Tiginyanu
;
M.A.Stevens Kalceff
;
A.Sarua
;
G.Irmer
;
J.Monecke
;
O.Cojocari
;
H.L.Hartnagel
会议名称:
《》
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1999年
40.
Microvoids in polycrystalline CVD diamond
机译:
多晶CVD金刚石中的微孔
作者:
Karen M.Mcnamara
会议名称:
《Symposium on Optical Microstructural Characterization of Semiconductors held November 29-30, 1999, Boston, Massachusetts, U.S.A.》
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1999年
41.
Mesoscopic characterization of the optical prperty of antiphase boundaries in CuPt-ordered GaInP_2
机译:
CuP有序GaInP_2中反相边界的光学性质的介观表征
作者:
Y.Ohno
;
S.Takeda
会议名称:
《Symposium on Optical Microstructural Characterization of Semiconductors held November 29-30, 1999, Boston, Massachusetts, U.S.A.》
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1999年
42.
Internal spatial modes and local propagation properties in optical waveguides measured using near-field scanning optical microscopy
机译:
使用近场扫描光学显微镜测量的光波导的内部空间模式和局部传播特性
作者:
Bennett B.Goldberg
;
M.Selim Unlu
;
Greg Vander Rhodes
会议名称:
《Symposium on Optical Microstructural Characterization of Semiconductors held November 29-30, 1999, Boston, Massachusetts, U.S.A.》
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1999年
43.
Hybridization in electronic states and optical properties of covalent amorphous semiconductors
机译:
电子态杂化与共价非晶半导体的光学性质
作者:
Yuzo Shinozuka
会议名称:
《Symposium on Optical Microstructural Characterization of Semiconductors held November 29-30, 1999, Boston, Massachusetts, U.S.A.》
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1999年
44.
Effects of parid thermal annealing on the intersubband energy spacing of self-assembled InAs/GaAs quantum dots
机译:
局部热退火对自组装InAs / GaAs量子点的子带间能隙的影响
作者:
X.C.Wang
;
S.J.Chua
;
S.J.Xu
;
Z.H.Zhang
会议名称:
《Symposium on Optical Microstructural Characterization of Semiconductors held November 29-30, 1999, Boston, Massachusetts, U.S.A.》
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1999年
45.
Development of low energy cathodoluminescence system and its application to the study of ZnO powders
机译:
低能阴极发光系统的发展及其在ZnO粉体研究中的应用
作者:
Takashi Sekiguchi
会议名称:
《Symposium on Optical Microstructural Characterization of Semiconductors held November 29-30, 1999, Boston, Massachusetts, U.S.A.》
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1999年
46.
Determination of optical properties of fluorocarbon polymer thin films by a variable angle spectroscopic ellipsometry
机译:
可变角度光谱椭圆光度法测定氟碳聚合物薄膜的光学性能
作者:
Kang-Kuk Lee
;
Jin-Goo Park
;
Hyung-Jae Shin
会议名称:
《Symposium on Optical Microstructural Characterization of Semiconductors held November 29-30, 1999, Boston, Massachusetts, U.S.A.》
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1999年
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